[发明专利]液晶显示器件液晶层厚度的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试液晶显示器件液晶层厚度的方法。

背景技术

椭圆偏光法通过改变起偏器和检偏器的角度，得到不同的透过率来测试液晶显示器件垂直方向的延迟量δ，然后通过下式，即式(1)，求得液晶层厚度。

δ＝Δnd＝(n_e-n_o)d     (1)

其中Δn为双折射系数，d为液晶层厚度，n_e是非常光折射率，n_o是寻常光折射率。

上述测试液晶层厚度的方法不需寻常光折射率n_o，非常光折射率n_e的具体数值，而是直接通过它们差值Δn来计算液晶层厚度，极大提高了液晶层厚度的测试效率，降低了测试的复杂程度，该方法可以精确测量液晶分子水平排列液晶显示器件的液晶层厚度。

但是目前大部分液晶显示器件中的液晶分子都不是水平排列，而是倾斜排列，即具有一定的平均倾斜角(液晶分子长轴与取向层的夹角称为液晶分子的预倾角，综合实际液晶显示器件厚度方向预倾角的分布情况，采用一个折合数值来衡量整个液晶显示器件中液晶分子的倾斜程度，即平均倾斜角)。如果采用上述测试方法测试液晶分子倾斜排列的液晶显示器件，则液晶分子的平均倾斜角越大，该测试方法对液晶层厚度的测试精度越低。

同时，椭圆偏光仪都有一定的测试下限，上述测试方法先测量了液晶显示器件垂直方向的延迟量，再通过式(1)计算得到液晶层厚度的数值，因此对于垂直方向延迟量较小的液晶显示器件，也难以实现液晶层厚度的准确测量。

因此，在液晶层厚度测试方面，对于液晶分子倾斜排列的液晶显示器件，或者垂直方向延迟量小(包括液晶分子倾斜和非倾斜排列二种情况)的液晶显示器件，上述测试方法的测试精度显然具有局限性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种测试精度高的液晶显示器件液晶层厚度的测试方法。采用的技术方案如下：

一种液晶显示器件液晶层厚度的测试方法，包括以下步骤：

(1)测试不同外加电压条件下液晶显示器件的平均倾斜角θ，并选择合适的一组入射角α和平均倾斜角θ作为延迟量δ测试条件；具体做法为：

(1-1)选取显示像素区域作为测试区域(如果显示像素不够大，则选取显示像素所占比例大的区域进行测试)，将测试区域显示像素的上下电极引出，在上下电极之间施加电压，测试不同外加电压下液晶显示器件的平均倾斜角θ；

(1-2)将寻常光折射率n_o、非常光折射率n_e及测试得到的平均倾斜角θ的数值代入下面两式，即式(2)和式(3)：