[发明专利]太阳光紫外线指数监测的微型探测装置无效
| 申请号： | 200710026124.7 | 申请日： | 2007-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN101122519A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 谢自力;张荣;胡立群;韩平;江若琏;修向前;刘斌;赵红;朱顺明;顾书林;施毅;郑有炓 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/44;H01L31/105 |
| 代理公司： | 南京天翼专利代理有限责任公司 | 代理人： | 汤志武;王鹏翔 |
| 地址： | 210093*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 太阳光 紫外线 指数 监测 微型 探测 装置 | ||
1.太阳光紫外线指数监测的微型探测装置，其特征是利用GaN基和AlGaN基微型紫外探测器、芯片尺寸小于2-3mm，在290nm-400nm波长的包含紫外线A和紫外线B谱线范围的带宽内的响应特性；并由驱动电路对探测器人信号进行放大输出，驱动电路是由放大电路和AD转换和信号处理及显示电路构成，探测器先接放大电路再连接AD转换、信号处理及显示电路。
2.由权利要求1所述的太阳光紫外线指数监测的微型探测装置，其特征是紫外探测器采用AlGaN基紫外探测器，AlGaN基共振增强单色紫外探测器的结构是：在蓝宝石衬底上设有厚度在50-2000nm的低温和高温GaN材料，GaN材料上分别设有15-80nm和15-100nm的5-50个周期的AlN/AlGaN多层结构的分布布拉格反射镜为底镜；在上述底镜上设有n-AlxGa1-xN/i-GaN/p-AlxGa1-xN结构的谐振腔：即设有20-80nm厚的高温n-AlxGa1-xN，5-30nm厚的高温i-GaN吸收层，20-80nm厚的高温p-AlxGa1-xN，Al组分x≥0.3作为探测器的谐振腔；最后是层厚分别为15-80nm和15-100nm的0-30个周期的AlN/AlGaN多层结构的分布布拉格反射镜即顶镜完成RCE紫外探测器结构。
3.由权利要求1所述的太阳光紫外线指数监测的微型探测装置，其特征是AD转换和信号处理及显示电路以一微处理器构成；驱动电路采用1.5伏或3伏纽扣电池电源。
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