[发明专利]电子提花机的龙头检测方法及采用该方法的检测装置有效

专利信息
申请号: 200710022039.3 申请日: 2007-04-28
公开(公告)号: CN101054751A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 李锡放 申请(专利权)人: 江苏万工科技集团有限公司
主分类号: D03C3/24 分类号: D03C3/24;G01M19/00;G01R31/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 孙仿卫
地址: 2152*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电子 提花 龙头 检测 方法 采用 装置
【说明书】:

技术领域

发明属于纺织机械领域,特别是涉及电子提花机龙头检测方法及采用该方法的检测装置。

背景技术

传统的电子提花机龙头生产厂家对其生产的龙头进行检测一般是在龙头出厂前,采用人工检查、试织等开环控制的方法,试织工作不仅需要很长时间,而且需要消耗大量的人力物力,并且准确性不高。特别是很多问题只能在使用中发现,这不仅给使用者带来不便,而且也变相地增加了厂家的成本,所以有必要在出厂之前准确和及时地发现存在错误的提针的数目及其位置。

中国技术杂志“仪器仪表学报”第26卷第3期,2006年3出版,文章题目“基于DSP的电子提花龙头检测器设计”,公开了一种电子提花机龙头检测器的技术方案。在提花机龙头针位下方连接有钢片,钢片中间开孔,提花时开孔位于光电传感器中间,产生一个信号。传感器间距为9mm,在传感器检测板上排列,每块板上正反两面共安装64个传感器,对于针数为2688的电子提花龙头,需要42块传感器检测板。将2688个位,按16个一组,编成168组,每组占用一个地址。用DSP采样数据,数据宽度为16位,一次读取一组信息,读操作168次,完成信息采样。

中国技术杂志“纺织学报”第26卷第4期,2005年8月出版,文章题目“基于ARM的电子提花龙头检测器设计”,有与前述文章基本相同的技术方案,只是采用ARM做处理器,采样数据宽度为32位,读操作84次完成2688针采样。

以上技术方案可以概括为二个要点:1.提花位置检测采用光电传感器方案,每针一个光电传感器,传感器间距为9mm。2.数据由微处理器通过并行口读入,传感器需要分组,每组分配一个地址,因此系统需要有一套时序和地址译码电路,用CPLD实现。

以上技术方案检测电路复杂,成本高,装置本身的制作难度大,可靠性不高,传感器耗电大,峰值电流高达160安,检测针数仅2688针,不便于针数扩展,对于5120针以上的电子提花机检测,必须考虑新的检测方法和检测装置。

发明内容

本发明目的就是为解决现有技术的不足而提供一种检测较方便,成本较低且便于针数扩展的电子提花机的龙头检测方法和采用该方法的检测装置。

为解决上述技术问题本发明的技术方案为:一种电子提花机的龙头检测方法,所述的电子提花机的龙头包括多根依次排列设置且作上下运动的提针,该方法包括如下步骤:

(a)、提针位置检测步骤:在所述的每根提针下端部连接可导电的钢综、与所述的钢综相滑动连接的检测开关,所述的钢综两端设置有绝缘的尼龙接头,所述的检测开关包括一公共电极、位于公共电极下方的检测电极,在提针被提起的状态下,所述的尼龙接头与公共电极或检测电极相接触,所述的检测开关处于断开状态;在提针落下的状态下,所述的钢综分别与所述的公共电极和检测电极相接触,所述的检测开关处于导通状态;

(b)、设置采样器步骤:选择多个具有并入串出且有存贮功能的采样器,所述的每个采样器具有多个并行数据输入端,且并行数据输入端的数目与所述的提针针数相同,多个所述的采样器具有共同的采样数据锁存控制端、共同的串行数据输出端,将步骤(a)中每个检测电极一一连接到所述的采样器的并行数据输入端上;

(c)、提针位置数据采样步骤:提针工作后,按每一纬的开口时序对提针位置进行采样,向所述的采样器的数据锁存控制端输入锁存脉冲信号,则每个检测电极的位置状态被锁存入所述的采样器;每一纬采样结束后启动串行数据输出端,将采样器中锁存的每个检测电极的位置状态顺序读出;

(d)、位置数据对比步骤:将读出的采样器中的数据值与预期数据值相对应比较,若有错误发出报警信号,并报告出错的提针位置;

(e)、重复上述步骤(c)到步骤(d),直至检测结束。

所述的采样器为并入串出移位寄存器或具有串行接口的微处理器(MCU)的一种。

根据上述的检测方法,本发明还提供了一种电子提花机龙头检测装置,它包括一控制板、多块检测板,所述的每块检测板上设置有公共电极、相间隔排列的多个检测电极、并行数据输入端与每个检测电极相连接的多个并入串出采样器,所述的控制板包括用于串行接收所述的采样器输出的提针位置数据信息的嵌入式微处理器、用于存储正确花纹数据的存储机构。

该技术方案中,采样器为并入串出移位寄存器或具有串行接口的微处理器(MCU)的一种。

所述的每个检测电极的间距为4mm-6mm,从而使得相邻的电极间不会发生短路碰撞。

所述的每个检测电极通过一上拉电阻与供电电压相电连接。

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