[发明专利]一种高温材料黑体辐射发射率的测试原理及方法无效

专利信息
申请号: 200710012987.9 申请日: 2007-09-28
公开(公告)号: CN101144739A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 王忠堂;张士宏 申请(专利权)人: 沈阳理工大学
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10;G01J5/28;G01J5/12
代理公司: 沈阳利泰专利代理有限公司 代理人: 李枢
地址: 110168辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 高温 材料 黑体 辐射 发射 测试 原理 方法
【说明书】:

技术领域

本发明属于高温材料黑体辐射发射率的一种测试方法,特别涉及材料在高温条件下的测试。

背景技术

材料的黑体辐射发射率在红外测温时是一个非常重要的参数,黑体辐射发射率的准确性直接影响红外测温的精度。红外测温是利用物体的热辐射现象来测量物体温度的一种方法,目前资料介绍的关于材料黑体辐射发射率的有关数值都在200℃以下的温度范围,而对于高温时的材料黑体辐射发射率的有关数据及测试方法则无法或很难进行测量,本发明专利就是基于以上技术需求而提出来的。

利用红外测温仪测温的基本原理是直接测试材料的辐射能,然后通过黑度辐射定律及测试前输入的黑体辐射发射率,最终计算并读出发热体温度T,黑体辐射定律为:W=CεσT4,其中W为总的辐射通量密度(W/cm2);ε为黑体辐射发射率(发射率);σ为玻尔兹曼常数(W·cm-2·K-4);C为比例系数,在用红外测温仪测温时,必须在测试前先输入材料的参考黑体辐射发射率,由总的辐射通量密度计算式可知所输入的参考黑体辐射发射率值将直接影响最终读出的测试温度值T。而用热电偶测温时可以直接读出材料的实际温度T0,通过不断修正所输入的黑体辐射发射率参考值,最终使T和T0基本相等,此时的黑体辐射发射率参考值就非常接近实际的黑体辐射发射率值。

在测试时具体采用如下方案:由于在一定的温度下材料的辐射能是一定的,根据黑体辐射定律:W=CεσT4,可以计算材料在某温度下的黑体辐射发射率,即:

W=Cϵ0σT04=CϵσT4---(1)]]>

发明内容

本发明的目的在于提供一种高温材料黑体辐射率的测试方法,以提高红外测温的精度。

采用的技术方案是:

一种高温材料黑体辐射发射率的测试方法,具体步骤如下:

(1)黑体辐射发射率参考值ε的确定:取被测材料某一温度下(如室温)的黑体辐射发射率或取同类材料的黑体辐射发射率值作为黑体辐射发射率参考值,通过查阅相关资料确定;

(2)采用热电偶测量材料实际温度T0(℃);

(3)在测试过程中,在接近黑体辐射发射率参考值ε0的范围内分别取ε12,ε3,ε4,ε5,用红外测温仪测得对应的温度T1,T2,T3,T4,T5,绘制曲线T-ε

(4)则曲线T-ε与T=T0交点所对应的黑体辐射发射率值ε0就是材料在温度T0时的黑体辐射发射率值;

(5)重复2,3,4步骤,取测试结果的平均值即为材料黑体辐射发射率值;

本发明的原理:

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