[发明专利]镜像恒流源测电容的方法有效
申请号: | 200710003010.0 | 申请日: | 2007-01-30 |
公开(公告)号: | CN101082644A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 王悦;王铁军;李维森 | 申请(专利权)人: | 王悦;王铁军;李维森 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G05B19/02 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 镜像恒流源测 电容 方法 | ||
发明领域
本发明一般涉及电容测量工作领域,更特别涉及高效率、高精确度的电容测量的领域。
发明背景
电容测量是许多场合需要具有的功能。
在现有技术中已经使用了很多方法来实现这种功能。目前公知的有谐振法、频率法等测试电容的方法。这些方法虽然成本低廉,但是测量精度不高、测量时间长,只能用于泛泛的电容值的测量。
图1所示的为谐振法测量电容的原理:
电路的核心部分CX->V转换电路采用简单的有源RC反相微分和积分电路。文氏振荡器产生一固定频率的交流信号Vr,它激励CX->V转换电路,得到一个与CX成正比的交流电压V0(V1),经二阶带通滤波器滤波,滤除固定频率以外的杂波后,再经AC/DC转换后得到与CX成正比的直流输出电压V。测量直流输出电压V,就可以计算出CX。
除此之外,还有采用电压源充电、RC电路放电,利用电压比较器和计数器来测量充电时间的方法来测量电容值。这种充放电的方法与本发明方法有类似之处,但是这种测量电容的方法依然具有精确度不高,放电时间长的缺点。而且,不同容值的电容接入的时候,放电的时间是随电容的增大而增大的。
发明概述
本发明的目的在于提供一种具备高精确度、测量时间短的电容测量方法。
本发明的镜像恒流源测电容的装置及方法,包括:镜像恒流源充放电模块2、电压检测模块3、控制模块4、时钟发生器1,原理框图如图2所示。
上述的镜像恒流源充放电模块2,与被测电容5的一端A相连,用于给被测电容5充、放电。
上述的电压检测模块3,输入与被测电容5的一端A相连,用于检测被测电容5A端的电压值。
上述的控制模块4,与镜像恒流源充放电模块2的控制端连接,控制充电回路的通断以及放电回路的通断;所述控制模块4还与电压检测模块3相连,获得被测电容5上的电压信息。
上述的镜像恒流源充放电模块2包括恒流源11、镜像电路13、充放电电路12、充放电开关控制电路14。
上述的恒流源11为充电电路、放电电路提供电源;
上述的充放电电路12用以给被测电容5充电、放电;
上述的镜像电路13使得被测电容5的充电电流I1与放电电流I2成比例关系,即I1=K×I2,其中K为一常数;
上述的充放电开关控制电路14用以控制充电电路的通断以及放电电路的通断。
控制模块4可以固定充电时间,测量电容的充电以前的电压和充电以后的电压的差值,从而计算出电容值。
控制模块4也可以固定充电的电压值,当电容上的电压达到预定值的时候,测量充电过程的时间,从而计算出电容值。
本发明与现有技术相比较有如下有益效果:
1.提高测量电容的精度。
2.缩短测量电容的时间,尤其是测量大容值的电容的时候,测量时间不增加。
以下是具体实施方法。
实施例1
本实施例的测电容的装置及方法,包括:包括:镜像恒流源充放电模块24、电压检测模块23、控制模块22、一个时钟发生器21,原理框图如图3所示。
所述的镜像恒流源充放电模块24包括一个恒流源、一个充放电电路、一个镜像电路、一个充放电开关控制电路。
所述的充放电电路由两个二极管D1、D2构成,通过D1向被测电容Cx充电,为充电电路;通过D2从被测电容Cx放电,为放电电路;
所述镜像电路由三极管Q1、三极管Q2、电阻R1、电阻R2、电阻R构成,对于本技术领域熟知的人知道,还可以有许多其他方式组成的镜像电路,此处仅举一例。其中,调节电阻R1与R2的比值就可以改变充电电流I1与放电电流I2的比值,此处,我们让R1=R2,这样就有I1=I2。
所述充放电开关控制电路由可控开关K1构成,在实际中可控开关K1可以是继电器,也可以是三极管等。控制器通过控制可控开关K1的控制端来控制开关K1的通断。从图3可以看出,当K1断开时,恒流源通过D1向被测电容充电,D2反向截止,关闭了放电电路;当K1闭合时,D1反向截止,关闭充电电路,通过Q1,从被测电容放电。
上述的镜像恒流源充放电模块实现了对电容的充、放电功能,且充电电流等于放电电流。
所述的电压检测模块23为一个A/D转换器,测量被测电容上的电压值,转换成数字信号,送给控制器。
所述控制模块22通过控制充放电开关控制电路,就可以实现完整的电容测量周期了。
本实施例测电容的方法如下:
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