[发明专利]断层摄影装置以及运算处理程序无效
| 申请号: | 200680053079.8 | 申请日: | 2006-02-20 |
| 公开(公告)号: | CN101378698A | 公开(公告)日: | 2009-03-04 |
| 发明(设计)人: | 森田尚孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | A61B6/02 | 分类号: | A61B6/02;A61B6/03 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 断层 摄影 装置 以及 运算 处理 程序 | ||
1.一种断层摄影装置,其取得3维的断层图像,其中,
具备:
照射源,其将放射线照射到被检测体;
检测机构,其对照射到所述被检测体并透过的所述放射线进行检测;
旋转机构,其在将连结所述照射源和检测机构的轴作为中心轴,将与该中心轴相垂直的轴的一个作为体轴,将与该体轴垂直且包含所述中心轴的面作为中央断层面,将在该中央断层面上规定的坐标轴和中心轴所成的角度作为投影角度时,使照射源/检测机构和被检测体的至少一方围绕所述体轴旋转;
运算处理机构,其在对由检测机构所检测的投影数据进行逆投影运算处理而进行断层图像的再构成时,使用由加算平均所求得的数据而进行所述再构成,所述加算平均与由所述再构成位置和所述投影角度所决定的值相对应。
2.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,
由所述再构成位置和所述投影角度所决定的值,是透过应当收集的被检测体的体轴方向的厚度的放射线投影到所述检测机构的范围,所述运算处理机构,使用由与该范围相对应的加算平均所求得数据,进行所述再构成。
3.根据权利要求2所述的断层摄影装置,其特征在于,
在将所述范围的沿着体轴的方向的宽度设为L,将所述厚度设为w,将与所述体轴相垂直的面设为xy平面时,将投影到xy平面上的再构成位置的坐标分别设为X、Y,将所述投影角度设为θ,将所述照射源的焦点设为F,将所述放射线的中心在所述检测机构上的到达点设为D,将围绕所述体轴旋转的旋转中心设为O,将从所述焦点F到所述到达点D的距离设为FD,将从所述焦点F到所述旋转中心O的距离设为FO时,由成为L=FD×w/(FO-Xcosθ-Ysinθ)的式子决定所述宽度L。
4.根据权利要求2所述的断层摄影装置,其特征在于,
针对在所述范围的沿体轴的方向的宽度中,以规定间隔分别设定的所述检测机构的各个单元中与该宽度的边界最接近且相互邻接的单元彼此的边界是否包含在沿体轴方向的宽度的内侧,而分情况求算:对应当由所述加算平均求得的数据的寄与量,并基于该寄与量进行加算平均。
5.根据权利要求4所述的断层摄影装置,其特征在于,
所述规定的间隔是整数,所设定的所述检测机构的所述单元的坐标是整数。
6.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,
所述加算平均是加权加算平均。
7.根据权利要求1所述的断层摄影装置,其特征在于,
所述放射线是X射线。
8.一种运算处理方法,是包含用于取得3维断层图像的步骤的一系列的运算处理方法,其中,
包括如下步骤:
以将把放射线照射到被检测体的照射源和对照射到所述被检测体而透过的所述放射线进行检测的检测机构进行连结的轴为中心轴,将与该中心轴相垂直轴的一个作为体轴,将与该体轴垂直且包含所述中心轴的面作为中央断层面,将在该中央断层面上规定的坐标轴和中心轴所成的角度作为投影角度时,对由检测机构所检测的投影数据进行逆投影运算处理而进行断层图像的再构成时,使用由加算平均所求得的数据而进行所述再构成,所述加算平均与由所述再构成位置和所述投影角度所决定的值相对应。
9.根据权利要求8所述的运算处理方法,其特征在于,
由所述再构成位置和所述投影角度所决定的值,是透过应当收集的被检测体的轴方向的厚度的放射线投影到所述检测机构的范围,使用由与该范围相对应的加算平均所求得数据,进行所述再构成。
10.根据权利要求9所述的运算处理方法,其特征在于,
在将所述范围的沿着体轴的方向的宽度设为L,将所述厚度设为w,将与所述体轴相垂直的面设为xy平面时,将投影到xy平面上的再构成位置的坐标分别设为X、Y,将所述投影角度设为θ,将所述照射源的焦点设为F,将所述放射线的中心在所述检测机构上的到达点设为D,将围绕所述体轴旋转的旋转中心设为O,将从所述焦点F到所述到达点D的距离设为FD,将从所述焦点F到所述旋转中心O的距离设为FO时,由成为L=FD×w/(FO-Xcosθ-Ysinθ)的式子决定所述宽度L。
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