[发明专利]具有抗反射涂层的集成电路无效
申请号: | 200680052705.1 | 申请日: | 2006-12-11 |
公开(公告)号: | CN101371350A | 公开(公告)日: | 2009-02-18 |
发明(设计)人: | 贾森·迈克尔·奈德理奇 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 刘国伟 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 反射 涂层 集成电路 | ||
1.一种集成电路,其至少一部分上具有抗反射涂层,所述涂层包含上覆于反射表面的 暗聚合物材料,其中通过粗糙化所述暗聚合物材料的顶部表面来增强所述暗聚合物 材料的抗反射率。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述暗聚合物材料是聚酰亚胺黑基质树脂。
3.根据权利要求1或2所述的集成电路,其进一步包含:
含有晶体管和导体的衬底,使用所述抗反射涂层来覆盖所述衬底的至少一部分;
以及
在所述衬底上形成的光调制器阵列,所述光调制器阵列经配置以基于图像数据而 调制光。
4.根据权利要求3所述的集成电路,其中所述抗反射涂层由包含铝的保护层保护。
5.根据权利要求3所述的集成电路,其中所述光调制器阵列包含多个个别光调制器, 每一个别光调制器具有有源区域,且其中不为有源区域的光调制器阵列的部分也使 用由暗聚合物基质形成的抗反射涂层来覆盖。
6.根据权利要求5所述的集成电路,其中所述光调制器阵列是微镜阵列,其中每一微 镜的所述有源区域是镜,且其中所述镜的边缘是使用由暗聚合物基质形成的抗反射 涂层来涂覆。
7.根据权利要求5所述的集成电路,其中所述光调制器阵列是液晶元件阵列,其中在 每一液晶元件周围的区域中布设配线,且其中每一液晶元件周围的所述区域使用由 暗聚合物基质形成的抗反射涂层来涂覆。
8.一种在集成电路的至少一部分上形成抗反射涂层的方法,所述方法包含:
在反射表面上施加暗聚合物材料;
固化所述暗聚合物材料;以及
粗糙化所述暗聚合物材料的顶部表面。
9.根据权利要求8所述的方法,其中所述粗糙化包含在灰化腔室中灰化所述暗聚合物 材料。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述灰化包含:
在给定压力下将氧气注入到所述灰化腔室中,其中所述给定压力大致等于50标 准立方厘米/分钟;以及
在电极到晶片的间距在0.09到1.3密耳的范围内且气体激励电源在180到250 瓦的范围内的情况下,施加指定压力并持续小于一分钟的时期,其中所述指定压力 在700到850毫托的范围内。
11.根据权利要求8到10中任一权利要求所述的方法,其进一步包含:在所述粗糙化 之后,在所述暗聚合物材料上溅射金属涂层;以及氧化所述金属涂层;其中溅射期 间所需要的温度低于所述暗聚合物材料的固化温度。
12.根据权利要求8所述的方法,其中所述溅射用于溅射选自包含以下各项的群组的材 料:铝、铝合金、钨、钨合金、铜、铜合金、钴、钴合金、钛和钛合金。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造