[发明专利]基板处理装置以及基板处理方法有效
| 申请号: | 200680051270.9 | 申请日: | 2006-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN101361169A | 公开(公告)日: | 2009-02-04 |
| 发明(设计)人: | 荒木浩之;德利宪太郎 | 申请(专利权)人: | 大日本网屏制造株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304 |
| 代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 马少东;徐恕 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 处理 装置 以及 方法 | ||
1.一种基板处理装置,其特征在于,包含:
基板保持机构,其以使基板的一侧表面朝向上方的姿势保持基板;
冲洗液供给机构,其用于向该基板保持机构所保持的基板的所述一侧表面供给冲洗液;
基板倾斜机构,其用于使所述基板保持机构所保持的基板从所述一侧表面沿着水平面的水平姿势以非旋转状态倾斜为所述一侧表面相对水平面以规定角度倾斜的倾斜姿势;
基板干燥装置,其用于使所述基板保持机构所保持的基板的表面干燥,
控制装置,其控制所述冲洗液供给机构以及所述基板倾斜机构,将通过所述基板保持机构而保持为水平的基板的所述一侧表面的一部分或者整个区域,用由所述冲洗液供给机构供给的冲洗液的液膜覆盖,此后,通过所述基板倾斜机构使所述基板倾斜。
2.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板倾斜机构以使该一侧表面上的冲洗液在该一侧表面上呈液块的状态不变而向下方移动并将其排除的方式,并以使在所述基板的一侧表面上移动的所述液块的后缘以每秒3~20毫米的速度移动的方式使基板倾斜。
3.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,还包含有抵接构件,所述抵接构件在通过所述基板倾斜机构而使基板倾斜时,与所述倾斜姿势的基板的下方一侧端面相抵接;从基板流下的冲洗液沿着所述抵接构件流下。
4.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述控制装置还控制所述基板干燥装置,在通过所述基板倾斜机构使所述基板倾斜从而使冲洗液从所述基板保持机构所保持的基板的所述一侧表面排除之后,通过所述基板干燥装置使基板上的液体成分干燥。
5.如权利要求4所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板干燥装置包含基板旋转装置,所述基板旋转装置使所述基板保持机构所保持的基板旋转,
所述控制装置在使基板干燥时,通过所述基板旋转装置使所述基板旋转,从而将在该基板的端面上残留的液滴甩掉。
6.如权利要求5所述的基板处理装置,其特征在于,所述控制装置在通过所述基板倾斜机构使所述基板倾斜从而使冲洗液从所述一侧表面排除之后,通过所述基板倾斜机构使基板从倾斜姿势恢复至水平姿势,此后,通过所述基板旋转装置使基板旋转,将在该基板的端面上残留的液滴甩掉。
7.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,所述基板干燥装置包含有红外线产生装置,所述红外线产生装置用于向所述基板保持机构所保持的基板照射红外线。
8.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,还包含有惰性气体供给机构,所述惰性气体供给机构用于向所述基板保持机构所保持的基板的所述一侧表面供给惰性气体,
所述控制装置还控制所述惰性气体供给机构,在使基板倾斜而将冲洗液从该一侧表面排除时,在所述基板的一侧表面上向至少冲洗液被排除的区域供给来自所述惰性气体供给装置的惰性气体。
9.如权利要求8所述的基板处理装置,其特征在于,还包含:遮断构件,其具有能够与所述基板保持机构所保持的基板的所述一侧表面接近而配置的基板相对面;遮断构件移动机构,其使该遮断构件与所述基板保持机构所保持的基板的所述一侧表面接近或者相背离;所述控制装置还控制所述遮断构件移动机构,在将来自所述惰性气体供给装置的惰性气体供给至所述基板的一侧表面上时,控制所述遮断构件移动机构,使得所述遮断构件的基板相对面配置在与所述基板的一侧表面相接近的规定位置上。
10.如权利要求9所述的基板处理装置,其特征在于,还包含有遮断构件倾斜机构,所述遮断构件倾斜机构在通过所述基板倾斜机构使基板倾斜时,使所述遮断构件倾斜,以使所述基板相对面按照该基板的倾斜而倾斜。
11.如权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,还包含有冲洗液补给机构,所述冲洗液补给机构向通过所述基板倾斜机构而成为倾斜姿势的基板的所述一侧表面上的冲洗液中重新供给冲洗液。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大日本网屏制造株式会社,未经大日本网屏制造株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680051270.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:数据管理方法和系统
- 下一篇:吸收型多层膜ND滤光片及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





