[发明专利]单片LNA支持IC有效

专利信息
申请号: 200680050075.4 申请日: 2006-10-30
公开(公告)号: CN101366172A 公开(公告)日: 2009-02-11
发明(设计)人: 戴维·布莱德博瑞 申请(专利权)人: 赛特克斯半导体公司
主分类号: H03F1/26 分类号: H03F1/26;H03F1/02;H03F1/30;H03F3/347;H03F1/52
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 英国奥*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 单片 lna 支持 ic
【权利要求书】:

1.一种低噪声放大器,包括:

多个FET,被布置为处理由放大器接收的信号;

电源输入端,被布置为接收用以操作低噪声放大器的电能;以及

单片支持IC,

其中,所述单片支持IC包括:

FET控制电路,被布置为监视并控制每个FET的漏极电流;

FET选择电路,被布置为检测提供至电源输入端的电压信号的DC分量的 电平,并根据所检测的DC电平给所述FET控制电路提供FET选择信号,所述 FET控制电路响应于所述FET选择信号而禁用所述多个FET中的两个FET中 所选的一个;

电压调节电路,连接至电源输入端,并适于根据到所述电源输入端的电 压信号产生调节后的输出电压;以及

负电源发生器电路,连接以接收调节后的输出电压,并被布置为根据调 节后的输出电压产生负电源电压,并将所述负电源电压提供给FET控制电路, 将所述FET控制电路布置为使用所述负电源电压来给FET提供负栅极驱动电 压,

其中该低噪声放大器还包括位于单片支持IC的外部、并被布置为承载校 准电流的校准电阻器;

其中所述FET控制电路被配置为监视所述多个FET的其中至少一个的漏 极电流,并且通过一对晶体管监视校准电流,该对晶体管中的其中一个被配置 为承载漏极电流,而另一个被配置为承载校准电流;以及

其中所述一对晶体管具有彼此不同的面积。

2.根据权利要求1所述的低噪声放大器,其中,所述电源输入端是信 号输出端,所述低噪声放大器被布置为从所述信号输出端输出放大的信号,以 便连接至所述信号输出端的设备接收。

3.根据权利要求2所述的低噪声放大器,其中,所述信号输出端是RF 信号输出端。

4.根据权利要求1-3中任一所述的低噪声放大器,其中,所述多个FET 是GaAs FET。

5.根据权利要求1所述的低噪声放大器,还包括用于调整所述每个FET 的漏极电流的装置。

6.根据权利要求5所述的低噪声放大器,其中,所述用于调整的装置 包括:电阻器,其电阻确定FET的漏极电流。

7.根据权利要求6所述的低噪声放大器,其中,所述电阻器连接在地 和FET控制电路之间。

8.根据权利要求1所述的低噪声放大器,其中,FET控制电路被布置 为控制每个FET的漏极电流、漏极电压、栅极电流和栅极电压。

9.根据权利要求1所述的低噪声放大器,其中,负电源发生器被布置 为将负电源电压提供给单片支持IC外部的低噪声放大器中的至少一个组件。

10.根据权利要求1所述的低噪声放大器,其中,电压调节电路被布置 为提供用于操作单片支持IC外部的低噪声放大器的组件所需要的所有电源。

11.根据权利要求1所述的低噪声放大器,还包括两个本地振荡器, 其中,所述单片支持IC还包括:

AC信号检测电路,被布置为:检测提供至电源输入端的电压信号的AC 分量,并根据所检测的AC分量提供AC分量检测信号;以及

本地振荡器控制电路,被布置为:接收AC分量检测信号,并根据接收 到的AC分量检测信号选择性地操作两个本地振荡器中的一个。

12.根据权利要求11所述的低噪声放大器,其中,所述本地振荡器控制 电路被布置为:通过选择性地将电源切换至本地振荡器,来选择性地操作本地 振荡器。

13.根据权利要求11所述的低噪声放大器,其中,所述本地振荡器是 MIMIC振荡器,每个MIMIC振荡器要求栅极驱动操作,以及其中本地振荡器控 制电路通过切换栅极驱动来选择性地操作本地振荡器。

14.根据权利要求11所述的低噪声放大器,其中,将本地振荡器操作 的选择布置为确定低噪声放大器的操作频带。

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