[发明专利]MEMS谐振器及其制造方法,以及MEMS振荡器无效

专利信息
申请号: 200680048256.3 申请日: 2006-12-18
公开(公告)号: CN101395795A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 约瑟夫·T·M·范贝克;巴尔特·范费尔岑 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H03H9/02 分类号: H03H9/02;H03H3/007
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 陈 源;张天舒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: mems 谐振器 及其 制造 方法 以及 振荡器
【权利要求书】:

1.一种MEMS谐振器,其包括第一电极和可移动元件(48)形式的第二电极,可移动元件(48)至少朝向第一电极是可移动的,第一电极和可移动元件(48)被具有侧壁的间隔(46,47)分开,其中,第一电极和第二电极作为半导体主体(10)的顶层(40)的一部分而形成,其中半导体主体包括衬底层(20)、牺牲层(30)和顶层(40),其中在第一电极下存在牺牲层,而在第二电极(48)下不存在牺牲层,以及其中在间隔(46,47)的至少一个侧壁上提供了电介质层(60)。

2.如权利要求1所述的MEMS谐振器,其特征在于在至少两个侧壁上提供了电介质层(60)。

3.一种制造MEMS谐振器的方法,其包括以下步骤:

提供半导体主体(10),其包括衬底层(20)、在衬底层(20)上所提供的牺牲层(30)和在牺牲层(30)上所提供的顶层(40);

形成顶层(40)图案,以形成间隔(46,47),间隔(46,47)局部地暴露牺牲层(30),间隔(46,47)还用于限定可移动元件(48);

选择性地去除牺牲层(30),以将移动元件(48)从衬底层(20)部分地释放出来;以及

在与可移动元件(48)周围的顶层(40)相关的间隔(46,47)的至少一个侧壁上提供电介质层(60)。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于在提供半导体主体(10)的步骤中,在牺牲层(30)上提供了包含硅的顶层(40)。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于提供电介质层(60)的步骤包括氧化步骤,由此,与顶层(40)相关的间隔(46,47)的至少一个侧壁上的至少硅被转化为氧化硅。

6.如权利要求3或4所述的方法,其特征在于提供电介质层(60)的步骤包括沉积电介质层,在与顶层(40)相关的间隔(46,47)的至少一个侧壁上提供了该电介质层(60)。

7.一种MEMS振荡器,其包括如权利要求1或2所述的MEMS谐振器。

8.一种集成电路,其包括如权利要求7所述的MEMS振荡器。

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