[发明专利]用于光学记录的空气隙饲服机构

权利要求书

1.用于近场光学记录的设备，信息由记录载体(11)上的轨道中的标记所表示，

该设备包括：

-光头(22)，其包括由透镜致动器定位于记录载体表面的近场距离处以便在轨道上产生扫描光斑的透镜，以及

-空气隙控制器(32)，其用于控制透镜和所述表面之间的空气隙，所述空气隙控制器具有用于通过向透镜致动器提供递增的周期性激励信号来将透镜从远距离带到近场距离的接近模式，以便产生透镜接近所述表面的一系列接近时刻，透镜在这些接近时刻在垂直于所述表面的方向上具有基本上为零的速度，并且所述一系列接近时刻随后将透镜带到更靠近所述表面的位置，以及

-控制装置(20)，其用于

-控制记录载体的旋转，

-检测记录载体表面在光头方向上的盘位移，

所述空气隙控制器(32)被设置用于

-将周期性激励和记录载体的旋转同步，使得在垂直于所述表面的方向上具有基本上为零的速度的所述接近时刻之一对应于盘位移的最小值。

2.如权利要求1所述的设备，其中控制装置(20)包括用于检测记录载体的旋转位置的位置装置(36)以及用于存储对应于所述盘位移最小值的峰值旋转位置的存储器(37)。

3.如权利要求1所述的设备，其中位置装置(36)被设置用于检测根据所述旋转位置产生的转速脉冲。

4.如权利要求1所述的设备，其中空气隙控制器(32)包括同步正弦发生器(34)，该同步正弦发生器(34)具有用于接收指示旋转的控制信号的输入端以及用于产生同步正弦波的输出端，该同步正弦波用于产生所述周期性激励。

5.如权利要求1所述的设备，其中所述递增周期性激励信号包括幅度递增的周期性信号。

6.如权利要求1所述的设备，其中所述递增周期性激励信号包括斜波分量。

7.如权利要求1所述的设备，其中所述递增周期性激励信号包括低通滤波的阶梯分量。

8.如权利要求1所述的设备，其中空气隙控制器(32)被设置用于在接近模式下

检测透镜何时在所述接近时刻之一处位于近场距离(355)之内；以及

当透镜位于近场距离之内时切换到闭环模式。

9.如权利要求1所述的设备，其中控制装置(20)被设置用于通过处理伺服信号来检测记录载体表面在光头方向上的盘位移，所述处理伺服信号来自用于将辐射束聚焦在记录载体的层上的聚焦伺服系统(38)，在特定情况下该聚焦伺服系统(38)被设置用于聚焦波长不同于所述扫描光斑波长的辐射束。

10.一种用于将透镜从远距离带到记录载体表面的近场距离以便用于近场光学记录的拉入方法，该方法包括：

-向透镜致动器提供递增的周期性激励，以便产生透镜接近所述表面的一系列接近时刻，透镜在这些接近时刻在垂直于所述表面的方向上具有基本上为零的速度，并且所述一系列接近时刻随后将透镜带到更靠近所述表面的位置，

-控制记录载体的旋转，

-检测记录载体表面在光头方向上的盘位移，以及

-将所述周期性激励和记录载体的旋转同步，使得在垂直于所述表面的方向上具有基本上为零的速度的所述接近时刻之一对应于盘位移的最小值。