[发明专利]X射线检查装置

权利要求书

1.一种X射线检查装置，其根据对检查对象物照射的X射线的透过量推定所述检查对象物的质量，其特征在于，包括：

照射部，其向所述检查对象物照射X射线；

X射线检测部，其对从所述照射部照射并透过所述检查对象物的X射线量进行检测；

取样图像取得部，其根据对多个所述检查对象物进行照射并在所述X射线检测部检测出的X射线量，取得各自的X射线透过图像；

输入部，其输入各所述检查对象物的实际质量，其中，所述检查对象物是已被取得所述X射线透过图像的检查对象物；

理想曲线制作部，其制作表示所述X射线透过图像所包含的各单位区域的亮度a和与之对应的各单位区域的推定质量m(a)的关系的理想曲线；

曲线调整部，其根据由所述输入部输入的所述实际质量，按照各灰度等级调整在所述理想曲线制作部制作的所述理想曲线；和

质量推定部，其根据在所述曲线调整部按照各灰度等级调整后的所述理想曲线推定所述检查对象物的质量。

2.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述曲线调整部对于与所述各单位区域的亮度a对应的推定质量m(a)，就±x％分别求取推定质量m+(a)和m-(a)，从这些推定质量中选择偏差最小的推定质量来置换所述推定质量m(a)，并调整所述理想曲线。

3.如权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述曲线调整部反复进行所述推定质量m(a)的置换，直到所述亮度a为规定的灰度等级。

4.如权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述曲线调整部反复进行所述推定质量m(a)的置换，直到所述推定质量m(a)的偏差在规定的范围内。

5.如权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述曲线调整部只反复进行规定次数的所述推定质量m(a)的置换。

6.如权利要求2所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述曲线调整部反复进行所述推定质量m(a)的置换直到经过规定时间。

7.如权利要求1～3中的任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述理想曲线制作部每10灰度等级使所述亮度a变化，计算所述推定质量m(a)，并线性插补其之间的值，由此制作所述理想曲线。

8.如权利要求1～3中的任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述理想曲线制作部根据表示所述X射线透过图像所包含的所述各单位区域的亮度a与其推定质量m(a)的关系的规定的数学式，制作表示所述亮度a和所述推定质量m(a)的关系的表。

9.如权利要求1～3中的任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述单位区域为所述X射线透过图像所包含的1个像素。

10.如权利要求1～3中的任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述理想曲线制作部每10灰度等级使所述亮度a变化，并计算所述推定质量m(a)，对线性插补过其之间的值的函数计算移动平均，制作所述理想曲线。

11.如权利要求1～3中的任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述理想曲线制作部每10灰度等级使所述亮度a变化，并计算所述推定质量m(a)，曲线插补其之间的值，制作所述理想曲线。