[发明专利]半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200680041298.4 申请日: 2006-08-10
公开(公告)号: CN101300685A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 荒井千广 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;H01L21/76;H01L21/761;H01L21/762;H01L27/12;H01L27/146
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 彭久云
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种在半导体基板上具有多个光敏二极管的半导体装置,其特征在于,

该多个光敏二极管的阴极和阳极形成为与该半导体基板电独立,

该多个光敏二极管具有公共阳极和多个分离的阴极,并且来自该公共阳极的输出被作为等效于该多个分离的光敏二极管输出的总和,

其中,该半导体装置包括形成于该半导体基板上的绝缘层,形成在该绝缘层上的P型掩埋层,由浓度低于该掩埋层的浓度的P型层形成在该掩埋层上的P型低浓度层;以及形成在该低浓度层的上层中用作该多个阴极的N型层,

由该低浓度层和该掩埋层形成的阳极区域由到达该绝缘层的隔离区域分段和隔离,且阳极引出区域形成于该低浓度层中以达到该掩埋层,该阳极引出区域由浓度高于该低浓度层的浓度的P型杂质层形成,

该公共阳极由被该隔离区域分段和隔离的该掩埋层和该低浓度层以及形成于该低浓度层中的该阳极引出区域构成。

2.一种在半导体基板上具有多个光敏二极管的半导体装置,其特征在于,

该多个光敏二极管的阴极和阳极形成为与该半导体基板电独立,

该多个光敏二极管具有公共阴极和多个分离的阳极,并且来自该公共阴极的输出被作为等效于该多个分离的光敏二极管输出的总和,

其中,该半导体装置包括形成于该半导体基板上的绝缘层,形成在该绝缘层上的N型掩埋层,由浓度低于该掩埋层的浓度的N型层形成在该掩埋层上的N型低浓度层;以及形成在该低浓度层的上层中用作该多个阳极的P型层,并且

由该低浓度层和该掩埋层形成的阴极区域由到达该绝缘层的隔离区域分段和隔离,且阴极引出区域形成于该低浓度层中以达到该掩埋层,该阴极引出区域由浓度高于该低浓度层的浓度的N型杂质层形成,

该公共阴极由被该隔离区域分段和隔离的该掩埋层和该低浓度层以及形成于该低浓度层中的该阴极引出区域构成。

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其特征在于,该掩埋层和该低浓度层所形成的半导体区域的厚度大于光学吸收长度。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,该光敏二极管接收从光盘反射的反射光,该半导体装置使用该公共阳极的输出作为RF信号,并且该半导体装置使用该多个分离的阴极的输出进行聚焦信号处理和跟踪信号处理。

5.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,该光敏二极管接收从光盘反射的反射光,并且

该半导体装置使用该公共阴极的输出作为RF信号,并且使用该多个分离的阳极的输出进行聚焦信号处理和跟踪信号处理。

6.一种制造半导体装置的方法,其特征在于,包括下面的步骤:

在半导体基板上形成的绝缘层上形成P型掩埋层,

在该掩埋层上形成浓度低于该掩埋层的浓度的P型低浓度层,

在该低浓度层中形成到达该掩埋层的阳极引出区域,该阳极引出区域由浓度高于该低浓度层的浓度的P型杂质层形成,

形成到达该绝缘层的隔离区域以便将该低浓度层和该掩埋层分段和隔离成独立的公共阳极区域,以及

在该低浓度层中形成N型区域用作光敏二极管的阴极,

由该隔离区域分段和隔离的该掩埋层、该低浓度层以及形成在该低浓度层中的该阳极引出区域形成公共阳极。

7.一种制造半导体装置的方法,其特征在于,包括下面的步骤:

在半导体基板上形成的绝缘层上形成N型掩埋层,

在该掩埋层上形成浓度低于该掩埋层的浓度的N型低浓度层,

在该低浓度层中形成到达该掩埋层的阴极引出区域,该阴极引出区域由浓度高于该低浓度层的浓度的N型杂质层形成,

形成到达该绝缘层的隔离区域以便将该低浓度层和该掩埋层分段和隔离成独立的公共阴极区域,以及

在该低浓度层中形成P型区域用作光敏二极管的阳极,

由该隔离区域分段和隔离的该掩埋层、该低浓度层以及形成在该低浓度层中的该阴极引出区域形成公共阴极。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼株式会社,未经索尼株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680041298.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top