[发明专利]用于确定建筑材料的性质的方法、系统及计算机程序产品有效

专利信息
申请号: 200680040289.3 申请日: 2006-08-30
公开(公告)号: CN101535844A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: R·E·特克斯勒 申请(专利权)人: 特克斯勒电子实验室公司
主分类号: G01V11/00 分类号: G01V11/00;G01V3/12;G01N9/10;G01N11/16
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇 炜
地址: 美国北*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 建筑材料 性质 方法 系统 计算机 程序 产品
【权利要求书】:

1.一种用于确定建筑材料的性质的材料性质测量计,所述材料性质测 量计包括:

电磁场生成器,其不同于所述建筑材料,用于生成电磁场;

(a)电磁传感器,可用于测量建筑材料对所述电磁场的响应,并且可 用于产生表示测得的所述建筑材料对所述电磁场的响应的信号;

(b)声探测器,可用于探测所述建筑材料对声能的响应,并且可用于 产生表示探测的所述建筑材料对所述声能的响应的信号;以及

(c)材料性质计算功能元件,配置为基于由所述电磁传感器和所述声 探测器产生的所述信号来计算与所述建筑材料相关的性质值。

2.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述电磁传感器包括 从包含弥散场传感器、电容传感器、微波近场传感器、微波谐振器、波导 传感器、传输线传感器、天线、及其组合的组选择的设备。

3.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述建筑材料包括从 包含铺筑材料、底基材料、及地基材料的组中选择的材料。

4.如权利要求3所述的材料性质测量计,其中,所述建筑材料包括从 包含泥土、沥青、石头的组中选择的材料。

5.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述声探测器包括从 包含地震检波器、加速计、振动传感器、压电元件、感应线圈、磁致伸缩 元件、弯曲部件、基于微电机系统(MEMS)的设备、地震波铺面分析仪、 硬度测量计、落锤式弯沉仪、动态圆锥贯入仪、及Humboldt硬度测量计的 组中选择的设备。

6.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述电磁场生成器用 于发射所述电磁场到所述建筑材料中。

7.如权利要求6所述的材料性质测量计,其中,所述电磁场生成器包 括从包含电压控制振荡器(VCO)、Clapp振荡器、驰豫振荡器、环荡振荡 器、RC振荡器、晶体振荡器、间歇振荡器、锁相振荡器、电压振荡器、多 频振荡器、耿氏二极管、数字控制振荡器、速调管、高功率微波磁电管、 后向波振荡器、VLF发送器、集成电路定时器、任意波形生成器、脉宽调 制设备、模拟综合器、电流源、综合源、YIG调谐振荡器、及集成电路的 组选择的设备。

8.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述材料性质计算功 能元件配置为基于由所述电磁传感器产生的所述信号来校正对所述建筑材 料的密度计算。

9.如权利要求8所述的材料性质测量计,其中,由所述电磁传感器产 生的所述信号表示与所述建筑材料相关的湿度性质值。

10.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述材料性质计算 功能元件配置为基于由所述声探测器产生的所述信号来校正对所述建筑材 料的密度计算。

11.如权利要求1所述的材料性质测量计,其中,所述材料性质计算 功能元件配置为基于由所述电磁传感器和所述声探测器产生的信号来计算 所述建筑材料的密度、湿度值、及模量中的一个或多个。

12.如权利要求11所述的材料性质测量计,其中,由所述电磁传感器 产生的所述信号表示与所述建筑材料相关的孔隙值。

13.如权利要求1所述的材料性质测量计,包括声生成器,可用于发 射所述声能到所述建筑材料中。

14.如权利要求13所述的材料性质测量计,其中,所述声生成器包括 从包含贯入仪、Clegg锤、落锤式弯沉仪、Briaud成型设备、FWD、地震检 波器、加速计、振动传感器、压电设备、基于感应线圈的设备、磁致伸缩 设备、弯曲部件、基于微电机系统(MEMS)的设备、电机混合器、螺旋 管激活锤、测量锤、频域设备、及时域设备的组中选择的设备。

15.如权利要求1所述的材料性质测量计,包括显示器,可用于显示 与所述建筑材料相关的所述性质值。

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