[发明专利]一种用于在探测系统中改进定位的方法和设备无效

专利信息
申请号: 200680040058.2 申请日: 2006-10-30
公开(公告)号: CN101297206A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: U·纳亚克;张晓兰;G·阿斯马罗姆;M·杰达 申请(专利权)人: 伊智科技公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 探测 系统 改进 定位 方法 设备
【权利要求书】:

1、一种用于维持多个接触电极和多个电接触之间的相对位置的测试系统,该测试系统包括:

与第一部件相连接的第一传感器,该第一部件被配置以支持与所述多个电接触相连接的装置,其中所述第一传感器被配置以测量沿三维坐标系统的轴线的第一参数;

与所述第一部件相连接的第二传感器,该第二传感器被配置以测量沿所述轴线的第二参数;以及

与所述第一部件相连接的控制系统,该控制系统被配置以接收来自所述第一传感器和来自所述第二传感器的信息,且该控制系统被配置以基于所述信息确定致动力,且其中所述致动力作用在所述第一部件上以维持所述接触电极和所述电接触之间的期望相对位置。

2、根据权利要求1所述的系统,其中所述第一参数和所述第二参数是沿所述轴线的位置和速度以及力中的一者。

3、根据权利要求1所述的系统,其中所述轴线平行于所述接触电极和所述电接触之间的接触力向量。

4、根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器能测量由于温度变化和接触力所导致的所述第一参数的变化。

5、根据权利要求1所述的系统,其中所述控制系统包括使用由所述第一传感器测量的位置信息的第一反馈回路和使用由所述第二传感器测量的速度信息的第二反馈回路。

6、根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器和所述第二传感器中的至少一者是线性传感器。

7、根据权利要求1所述的系统,其中所述第一传感器与绝热底座相连接。

8、一种用于精确维持多个接触电极和多个电接触之间的相对位置的测试系统,该测试系统包括:

与第一部件相连接的第一传感器,该第一部件被配置以支持与所述多个电接触相连接的装置,其中所述第一传感器被配置以测量沿三维坐标系统的轴线的第一参数,且其中所述第一传感器与绝热底座相连接;

与所述第一部件相连接的第二传感器,该第二传感器被配置以测量沿所述轴线的第二参数;

与所述第一部件相连接的控制系统,该控制系统被配置以接收来自所述第一传感器的信息以及来自所述第二传感器的信息,且该控制系统被配置以基于所述信息确定致动力,且其中所述致动力作用在所述第一部件上以维持所述接触电极和所述电接触之间的期望相对位置;以及

与所述第一部件连接的多个执行器,该执行器被配置以施加由所述控制系统确定的所述致动力并消除由所述接触电极和所述电接触之间的接触力而引起的所述第一部件的倾斜。

9、一种用于精确维持多个接触电极和多个电接触之间的相对位置的测试系统,该测试系统包括:

第一部件,该第一部件被配置以支持与所述多个电接触相连接的第一装置;

第二部件,该第二部件被配置以支持与所述多个接触电极相连接的第二装置,且其中所述第二部件被配置以在高压下与所述第一部件相接触;

与所述第一部件相连接且与多个传感器相连接的控制系统,其中所述传感器被配置以测量在所述第一部件中的倾斜;以及

与所述第一部件和所述控制系统相连接的多个执行器,且所述多个执行器被配置以接收来自所述控制系统的命令并施加力到所述第一部件以消除所述倾斜。

10、一种用于相对于多个电接触来精确定位多个接触电极的方法,该方法包括:

使用与第一部件相连接的第一传感器来测量沿三维坐标系统的轴线的第一参数,所述第一部件被配置以支持具有所述多个电接触的装置;

使用与所述第一部件相连接的第二传感器来测量沿所述轴线的第二参数;以及

使用与所述第一部件相连接的控制系统来确定致动力,其中所述控制系统被配置以接收来自所述第一传感器的信息和来自所述第二传感器的信息,且其中所述致动力作用在所述第一部件上以维持所述接触电极和所述电接触之间的期望相对位置。

11、根据权利要求10所述的方法,其中所述第一参数和所述第二参数是位置和速度以及力中的一者。

12、根据权利要求10所述的方法,其中所述轴线平行于所述接触电极和所述电接触之间的接触力向量。

13、根据权利要求10所述的方法,其中所述第一传感器能测量由于温度变化和接触力所导致的所述第一参数的变化。

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