[发明专利]利用POTDR轨迹来评估光纤PMD的方法无效

专利信息
申请号: 200680039118.9 申请日: 2006-08-14
公开(公告)号: CN101292145A 公开(公告)日: 2008-10-22
发明(设计)人: X·陈;N·A·赫里欧 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J4/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李玲
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 利用 potdr 轨迹 评估 光纤 pmd 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量光纤中的偏振模色散的方法,该光纤具有纵轴以及沿该纵轴 的长度,所述方法包括:

(a)将第一偏振输入光脉冲发送到光纤长度的第一端中,由此使第一后向 散射光信号从光纤的第一端出射;

(b)通过实现第一后向散射光信号的偏振敏感测量,获得与光纤长度相对 应的第一后向散射强度轨迹;

(c)将第二偏振输入光脉冲发送到光纤长度的第二端中,由此使第二后向 散射光信号从光纤的第二端出射;

(d)通过实现第二后向散射光信号的偏振敏感测量,获得与光纤长度相对 应的第二后向散射强度轨迹;

(e)分析第一后向散射强度轨迹的强度变化,其中该分析步骤包括分析在 来自第一后向散射强度轨迹的滑动数据窗口上的强度变化,并且沿光纤长度纵 向地移动该数据窗口,同时继续分析该强度变化,由此产生第一强度轨迹变化, 其中包括沿光纤长度的局部强度变化的相关信息;

(f)分析第二后向散射强度轨迹的强度变化,其中该分析步骤包括分析在 来自第二后向散射强度轨迹的滑动数据窗口上的强度变化,并且沿光纤长度纵 向地移动该数据窗口,同时继续分析该强度变化,由此产生第二强度轨迹变化, 其中包括沿光纤长度的局部强度变化的相关信息;以及

(g)通过确定在第二强度轨迹变化和第一强度轨迹变化之间的差的绝对大 小,产生与光纤长度相对应的绝对强度变化差轨迹。

2.如权利要求1所述的方法,还包括:使绝对强度变化差轨迹与光纤中的 偏振模色散(PMD)分布关联起来。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述使关联起来的步骤还包括: 确定光纤中相对于其它部分具有高PMD的那部分的位置和纵向边界。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一和第二偏振输入光脉 冲足够深地进入光纤中,使得各个脉冲所穿过的路径至少部分重叠。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述滑动窗口具有0.1到5km 的宽度。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,通过调制连续波光源的输出产 生第一和第二偏振输入光脉冲,使得所述脉冲的线宽得到控制。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光纤具有两个双折射轴, 并且第一和第二偏振输入光脉冲的偏振角的取向没有与所述两个双折射轴中 的任一个对齐。

8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一和第二偏振输入光脉 冲都是线性偏振的。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述第一和第二偏振输入光脉 冲都不是线性偏振的。

10.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一和第二偏振输入光 脉冲都具有介于5和500ns之间的脉冲宽度。

11.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一和第二偏振输入光 脉冲各自具有一线宽,并且其中所述方法还包括控制所述第一和第二偏振输入 光脉冲各自的带宽。

12.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述偏振敏感测量包括:使 后向散射光信号穿过起偏器进入检测器。

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