[发明专利]溅射靶有效
| 申请号: | 200680036926.X | 申请日: | 2006-09-07 |
| 公开(公告)号: | CN101278071A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
| 发明(设计)人: | 小田国博;福岛笃志 | 申请(专利权)人: | 日矿金属株式会社 |
| 主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王海川;樊卫民 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 溅射 | ||
1.一种钽或钽基合金溅射靶,其特征在于,靶最外表面通过X射线衍射测定的{200}结晶面的半高宽为0.1~0.6。
2.权利要求1所述的溅射靶,其中,半高宽为0.15~0.45。
3.权利要求1或2所述的溅射靶,其中,半高宽的变动在±0.05以内。
4.权利要求1至3中任一项所述的溅射靶,其中,{110}结晶面的半高宽为0.25~0.4,该半高宽的变动在±0.05以内。
5.权利要求1至4中任一项所述的溅射靶,其中,钽或钽基合金溅射靶的加工应变深度为距离靶表面15μm的深度。
6.权利要求5所述的溅射靶,其中,钽或钽基合金溅射靶的加工应变深度为距离靶表面10μm的深度。
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