[发明专利]真空开关箱无效
| 申请号： | 200680033396.3 | 申请日： | 2006-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101263571A | 公开（公告）日： | 2008-09-10 |
| 发明（设计）人： | E·杜尼;D·根奇;K·卡尔滕格 | 申请（专利权）人： | ABB技术股份公司 |
| 主分类号： | H01H33/662 | 分类号： | H01H33/662 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 董华林 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 真空开关 | ||
1.真空开关箱，包括一个绝缘的陶瓷的壁，可在真空中运动的接触件设置在该壁内部并且由接触件与开关箱壁之间的屏蔽件同心地包围，其特征在于：在真空开关箱(10)内的屏蔽件(4、7)或其它构件的区域内至少部分地施加由高熔点的材料或耐火金属构成的覆层。
2.按权利要求1的真空开关箱，其特征在于：要被施加的层的高熔点的材料由以下元素构成：钨和/或铬和/或钼和/或钒和/或钛和/或钽和/或碳(材料XXX)。
3.按权利要求2的真空开关箱，其特征在于：所述覆层通过PVD法或CVD法、通过溅射或蒸发或化学反应或通过喷射技术或浸渍或涂刷或到真空开关箱的相应局部上的喷射而被施加。
4.按上述权利要求之一的真空开关箱，其特征在于：覆层由超微颗粒构成。
5.按权利要求4的真空开关箱，其特征在于：超微颗粒由钨或钼或钽或钒或钛或铬、碳构成。
6.按权利要求4的真空开关箱，其特征在于：超微颗粒由CuCr合金构成。
7.按权利要求4的真空开关箱，其特征在于：超微颗粒由复合材料构成。
8.按权利要求7的真空开关箱，其特征在于：复合材料由含有Cr＞1％的CuCr构成。
9.按权利要求7的真空开关箱，其特征在于：复合材料由WCu或MoCu构成。
10.按权利要求7的真空开关箱，其特征在于：复合材料由TiN或TiN+Al2O3或TiCN或TiAlN构成。
11.按权利要求7的真空开关箱，其特征在于：复合材料由WC构成。
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