[发明专利]用于检验放射治疗设备的剂量测定装置有效
申请号: | 200680032547.3 | 申请日: | 2006-07-27 |
公开(公告)号: | CN101257945A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | C·布鲁萨斯科;F·马切普托 | 申请(专利权)人: | 离子束应用股份有限公司;核物理国家研究院;大学实验物理系 |
主分类号: | A61N5/10 | 分类号: | A61N5/10;G01T1/29 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 比利时卢万*** | 国省代码: | 比利时;BE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检验 放射 治疗 设备 剂量 测定 装置 | ||
1.一种用于验证标准和适形放射治疗中的放射束的质量的剂量测定装置(10),尤其是用于IMRT(调强放射治疗)应用,该装置包括有源区,该有源区包含单独的放射检测器,其特征在于:
该有源区包括有限数目的行(70,71,80,81,90)的放射检测器;
该有源区还包括专用于电子或光子的能量测量的额外放射检测器(52,62);以及
所述装置(10)包括具有降能器(53,63)的累积板(50,60),所述降能器(53,63)在所述放射束的路径中位于所述额外放射检测器(52,62)的上游。
2.根据权利要求1的剂量测定装置(10),其特征在于所述放射检测器为电离室。
3.根据权利要求1的剂量测定装置(10),其特征在于所述放射检测器为二极管。
4.根据任一在前权利要求的剂量测定装置(10),其特征在于所述有限数目的行为一组两行(70和71,或80和81)的放射检测器,所述两行彼此基本正交。
5.根据权利要求1-3中任一权利要求的剂量测定装置(10),其特征在于所述有限数目的行为一组四行(70,71,80和81)的放射检测器,所述四行基本以彼此呈45度角取向。
6.根据任一在前权利要求的剂量测定装置(10),其特征在于所述降能器(53,63)或者为所述累积板(50,60)中不同厚度的凸起部的形式,和/或为凸起部或插入不同放射吸收材料的凹陷部的形式。
7.根据权利要求4-6中任一权利要求的剂量测定装置(10),其特征在于所述降能器(53,63)位于所述行的交叉点附近的四分之一区或八分之一区内,所述四分之一区或八分之一区由划分所述有源区的所述组的行(70和71,和/或80和81)限定。
8.根据任一在前权利要求的剂量测定装置(10),适用于确定IMRT放射治疗装置中的MLC的叶或爪的位置,其特征在于所述有限数目的行(70,71,80,81,90)的放射检测器包括专用于测量和确定位于所述IMRT放射治疗装置的等深点处的所述叶或爪位置的突出的一个或多个额外行(90)的放射检测器,所述一个或多个额外行(90)的放射检测器位于或靠近预期所述叶或爪突出的位置。
9.根据权利要求8的剂量测定装置(10),其特征在于所述额外行(90)的放射检测器包括位于所述剂量测定装置的两相对侧上的至少三个平行的额外行的放射检测器。
10.一种用于验证放射治疗装置中的放射束的相关量的方法,该放射治疗装置包括带有叶的MLC或爪,该方法包括如下步骤:
提供包括一行或多行(70,71,80,81,90)的放射检测器的剂量测定装置(10);
将所述MLC的叶或爪放置在预定位置;
通过所述MLC将放射剂量传递至所述剂量测定装置;
测量位于所述叶或爪的半影区中的一行放射检测器中的多个放射检测器吸收的剂量;
通过将所述测量剂量与函数拟合确定所述相关量。
11.根据权利要求10的方法,其特征在于所述相关量包括:
一个所述叶或爪的位置;
所述半影区的位置或宽度;
放射束分布达到束中心的束的值的给定百分比的位置;
放射束的偏度;
放射束的平直度;
放射束的中心的位置。
12.根据权利要求10-11中任一权利要求的方法,其特征在于将所述叶或爪的位置确定为与所述函数的50%值对应的位置。
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