[发明专利]相变光信息记录介质和用于记录的方法以及使用该方法的记录装置无效
| 申请号: | 200680031667.1 | 申请日: | 2006-08-25 |
| 公开(公告)号: | CN101253560A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
| 发明(设计)人: | 加藤将纪 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
| 主分类号: | G11B7/0045 | 分类号: | G11B7/0045;G11B7/125;G11B7/007 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 相变 信息 记录 介质 用于 方法 以及 使用 装置 | ||
1.一种用于在相变光信息记录介质上记录的方法,包括:
当记录n×Tw时间长度的标记时,照射具有功率Pw的“m”个数目的加热脉冲以及具有功率Pc的“m”个数目的冷却脉冲,以及
当设置最佳写入功率时,在测试记录和信息记录期间,当“n”为随意的时,改变第“m”加热脉冲THm和第“m”冷却脉冲TCm中的至少任一个的预设值,
其中,“m”是自然数,“n”是自然数,Tw是通道比特长度,Pw大于Pc,并且
当“n”为奇数时,n=2m+1成立,当“n”为偶数时,n=2m成立,“i”是等于或小于“m”的自然数,THi是第“i”加热脉冲的长度,TCi是第“i”冷却脉冲的长度。
2.如权利要求1所述的用于在相变光信息记录介质上记录的方法,其中,在测试记录和信息记录期间,仅在“n”为3或更大的奇数时才改变THm和TCm中的至少任一个的预设值。
3.如权利要求2所述的用于在相变光信息记录介质上记录的方法,其中,将测试记录期间的THm的预设值设置为大于信息记录期间的THm,或者将测试记录期间的TCm的预设值设置为小于信息记录期间的TCm。
4.如权利要求1至3中的任一项所述的用于在相变光信息记录介质上记录的方法,其中,通过评估为了测试记录而记录的再现信号的不对称度来设置最佳写入功率。
5.一种相变光信息记录介质,包括:
测试记录区域,用于设置最佳写入功率,以及
用于测试记录的THm和TCm中的至少任一个的预设值,所述测试记录用于设置最佳写入功率,
其中,在制造期间将所述预设值记录在所述相变光信息记录介质上,并且
所述相变光信息记录介质用于如权利要求1至4中的任一项所述的、用于在相变光信息记录介质上记录的方法。
6.如权利要求5所述的相变光信息记录介质,其中,在制造期间将最佳不对称度值记录在所述相变光信息记录介质上。
7.一种相变光信息记录介质的记录装置,所述记录装置用于如权利要求1至4中的任一项所述的、在相变光信息记录介质上记录的方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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