[发明专利]用于校正辐射传感器的输出信号和用于测量辐射的方法与设备

权利要求书

1.一种用于校正辐射传感器的输出信号的方法，其包括步骤

从与所述传感器的温度有关或与所述传感器的一个或一个以上组件有关的量的相应数目的测量值中获得两个或两个以上温度信号，以及

参考所述温度信号校正所述输出信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其中还参考一个或一个以上校准值进行校正所述输出信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量值在时间上间隔开。

4.根据权利要求3所述的方法，其中根据所述传感器或其组件的时间常数选择所述时间差。

5.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其中所述测量值在地点上间隔开。

6.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其包括步骤：参考所述温度信号确定校正值，以及参考所述校正值校正所述输出信号。

7.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其中形成两个温度信号的差值或从所述温度信号推导出的至少一个推导值的差值，并将所述差值用于校正。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述推导值是平均值。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述平均值如下确定：

va＝k*Ta+(1-k)*vae，

其中va是所述平均值，vae是较早的相应平均值，Ta是实际测量

的温度值，且k是平均化系数，其中0＜k≤1。

10.根据权利要求9所述的方法，其中确定两个平均值，所述两个平均值具有不同的平均化系数，其中形成所述两个平均值的差值以用于校正。

11.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其中将所述温度信号从所述传感器传输离开以用于对所述辐射传感器的输出信号进行外部校正。

12.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其中将所述温度信号中的一者或一者以上或从所述温度信号推导出的推导值存储在所述传感器中，且在所述传感器内校正并从其中输出所述辐射传感器的所述输出信号。

13.根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法，其包括以下特征中的一者或一者以上：

所述传感器包括优选具有冷触点和热触点的热电堆传感器元件，

所述热触点优选位于薄膜上，

所述传感器包括ASIC，所述ASIC用于获得所述两个或两个以上温度信号和/或用于参考所述温度信号校正所述输出信号，

所述传感器元件适合于将IR辐射转换为电信号。

14.一种用于测量温度的方法，其包括步骤

从辐射传感器获得输出信号，以及

用根据前述方法权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的方法校正所述输出信号。

15.一种用于测量辐射的设备，其包括

传感器元件(10)，其用于接收辐射并将所述辐射转变为电输出信号，以及

构件(11、21、22、24)，其用于从与所述设备的温度有关的量的相应数目的测量值中获得两个或两个以上温度信号。

16.根据权利要求15所述的设备，其包括用于参考所述温度信号校正所述输出信号的校正构件(21、50、80)。

17.根据前述设备权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的设备，其包括用于输出所述输出信号以及所述获得的温度信号和/或从所述温度信号推导出的一个或一个以上推导值的构件(29a-e)。

18.根据前述设备权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的设备，其包括用于提供所述温度信号的一个或一个以上温度传感器(11、22、24)。

19.根据前述设备权利要求中的一个或一个以上权利要求所述的设备，其包括用于重复询问温度传感器以获得所述温度信号的询问构件(21)。