[发明专利]成像系统、特别是显微光刻投影曝光设备的投影物镜有效

专利信息
申请号: 200680029609.5 申请日: 2006-08-04
公开(公告)号: CN101243359A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: K·-H·舒斯特 申请(专利权)人: 卡尔蔡司SMT股份公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B1/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 卢江;刘春元
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 成像 系统 特别是 显微 光刻 投影 曝光 设备 物镜
【权利要求书】:

1.成像系统、特别是显微光刻投影曝光设备的投影物镜,具有

·至少一个光学元件(100),所述光学元件(100)具有立方晶体材料,所述立方晶体材料在预定的工作波长的情况下具有大于1.6的折射率n;

·和图像侧的数值孔径,所述数值孔径小于所述折射率n;

·其中在所述折射率n与所述成像系统的数值孔径NA之间的差(n-NA)最大为0.2。

2.成像系统、特别是显微光刻投影曝光设备的投影物镜,具有

·至少一个光学元件(100),所述光学元件(100)具有立方晶体材料,所述立方晶体材料在预定的工作波长的情况下具有折射率n;

·和图像侧的至少为1.50的数值孔径;

·其中在所述折射率n与所述成像系统的数值孔径NA之间的差(n-NA)最大为0.2。

3.成像系统、特别是显微光刻投影曝光设备的投影物镜,具有

·至少一个光学元件(100),所述光学元件(100)具有立方晶体材料,所述立方晶体材料在预定的工作波长的情况下具有折射率n并且具有平的光出射面;

·和图像侧的数值孔径,所述数值孔径小于所述折射率n;

·其中在所述折射率n与所述成像系统的数值孔径NA之间的差(n-NA)最大为0.2。

4.按照权利要求1至3之一的成像系统,其特征在于,

在所述折射率n与所述数值孔径NA之间的差(n-NA)位于0.05至0.20的范围内,优选地位于0.05至0.15的范围内,并且特别优选地位于0.05至0.10的范围内。

5.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有氧化物。

6.按照权利要求5所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有蓝宝石(Al2O3)和氧化钾或氧化钙。

7.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有从以下组中选出的至少一种材料,所述组包含7Al2O3·12CaO、Al2O3·K2O、Al2O3·3CaO、Al2O3·SiO2KO、Al2O3·SiO2·2K和Al2O3·3CaO6H2O。

8.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有钙、钠和氧化硅。

9.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有从包含CaNa2SiO4和CaNa4Si3O9的组中选出的至少一种材料。

10.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述立方晶体材料具有从包含Sr(NO3)2、MgONa2O·SiO2和Ca(NO3)2的组中选出的至少一种材料。

11.按照上述权利要求之一的成像系统,其特征在于,

所述光学元件(100)是所述成像系统的图像侧的最后的折射透镜。

12.按照上述权利要求之一所述的成像系统,其特征在于,

所述光学元件(100)由带有折射力的第一分元件(10)和基本上无折射力的第二分元件(20)组成。

13.按照权利要求12所述的成像系统,其特征在于,

所述第一分元件(10)是基本上平凸的透镜。

14.按照权利要求12或13所述的成像系统,其特征在于,

所述第二分元件(20)是平面平行板。

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