[发明专利]用于校正误差的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200680025823.3 申请日: 2006-07-06
公开(公告)号: CN101223590A 公开(公告)日: 2008-07-16
发明(设计)人: Y·周 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/095 分类号: G11B7/095;G11B21/08;G11B21/10;G11B5/596
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李静岚;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 校正 误差 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于在由记录器进行记录期间校正光学信息载体的轨迹相关误差的方法,包括由伺服系统控制的光拾取器单元,所述伺服系统被布置用于跟踪预记录在所述载体中的轨道,所述方法包括:

从所述记录器的存储器取回关于涉及所述记录器的周期干扰的信息;和

将所述信息添加给所述伺服系统的前馈轨道控制系统以便在记录期间校正所述周期干扰。

2.如权利要求1所述的方法,其中所述涉及记录器的周期干扰是转台和主轴电动机误差。

3.如权利要求2所述的方法,还包括:

通过重复控制/学习前馈控制电路在记录期间只抑制关于来自转台和主轴电动机的所述周期干扰的信息。

4.如权利要求3所述的方法,还包括:

获得表示所述信息载体的旋转速度的旋转信号;

将所述旋转信号馈送给用于计算抑制信息的校正电路;

将所述抑制信息馈送给所述重复控制/学习前馈控制电路以便计算将与用于控制所述伺服系统的伺服控制信号相加的抑制信号。

5.如前述权利要求中的任何一个所述的方法,其中所述关于涉及记录器的周期干扰的信息是通过下述步骤获得的:

播放没有载体周期干扰的信息载体;

根据下式获得有关所述周期干扰的信号:

Y1(k)=Σi=1NA1isin(ωikT+θ1i)---(1)]]>

其中Y1指的是由所述记录器的周期干扰引起的径向/聚焦误差信号,ωi=iω0是盘旋转频率,A1i是在旋转频率第i次谐波下的干扰的幅度,θ1i是在旋转频率的第i次谐波下的电动机干扰的相位,以及T是取样时间,k是实数;和

取等式(1)的FFT变换以便获得幅度A1i和相位θ1i

6.一种用于在由记录器进行记录期间校正光学信息载体的轨迹相关误差的系统,包括由伺服系统控制的光拾取器单元,所述伺服系统被布置用于跟踪预记录在所述载体中的轨道,所述系统包括:

存储器,包括关于涉及所述记录器的周期干扰的信息;和

所述伺服系统的前馈轨道控制系统,用于在记录期间校正这种周期干扰。

7.如权利要求6所述的系统,其中所述涉及记录器的周期干扰是转台和主轴电动机误差。

8.如权利要求7所述的系统,还包括:

重复控制/学习前馈控制电路,用于在记录期间只抑制关于来自转台和主轴电动机的所述周期干扰的信息。

9.如权利要求8所述的系统,还包括:

传感器,用于获得表示所述信息载体的旋转速度的旋转信号;

校正电路,用于根据所述旋转信号计算抑制信息;

所述控制/学习前馈控制电路被布置用于根据所述抑制信息计算将与用于控制所述伺服系统的伺服控制信号相加的抑制信号。

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