[发明专利]以电磁方式测量壁厚的装置

权利要求书

1.测量装置，具有发送单元(10，42)，用于产生电磁的、穿透壁板(18)的测量场(12)；具有接收单元(14)，用于探测测量场(12)的至少一部分；并具有分析处理单元(16)，用于对由接收单元(14)所探测到的信号(20)进行分析处理，其特征在于，分析处理单元(16)被设置用于求出测量场(12)沿着壁板(18)的位置关系的至少一个特征参数(t₁-t₃，t₁₂，t₁₃)，并根据该特征参数(t₁-t₃，t₁₂，t₁₃)确定壁板(18)的壁厚(D)。

2.按权利要求1所述的测量装置，其特征在于，分析处理单元(16)被设置用于在至少三个不同的测量位置(22，24，26)上检测信号(20)，用于确定特征参数(t₁-t₃，t₁₂，t₁₃)。

3.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于，分析处理单元(16)被设置用于对所探测的信号(20)的至少一个自相关函数(R₁₁)进行分析处理，以确定信号传播时间(t₁，t₂，t₃)。

4.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于，分析处理单元(16)被设置用于由两个在不同测量位置(22-26)上测得的信号(20)来确定至少一个互相关函数(R₁₂，R₁₃)，以确定传播时间差(t₁₂，t₁₃)。

5.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于至少一个傅立叶变换函数(28)，用于转换取决于时间的信号(20)。

6.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于，分析处理单元(16)被设置用于确定信号(20)的至少一个相位(_1，2，3)。

7.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于机构(30)，用于检测发送单元(10，42)和/或接收单元(14)移动的移动行程(d₁，d₂)。

8.按上述权利要求之一所述的测量装置，其特征在于，测量场(12)被构造成具有在千兆赫频率范围内的频率的高频场。

9.通过测量装置来测定抗磁的壁板(18)的壁厚(D)的方法，所述测量装置具有发送单元(10，42)，用于产生穿透壁板(18)的测量场(12)，并具有接收单元(14)，用于探测测量场(12)的至少一部分，其中在分析处理步骤中求出测量场(12)沿着壁板(8)的位置关系的至少一个特征参数(t₁-t₃，t₁₂，t₁₃)，并根据该特征参数(t₁-t₃，t₁₂，t₁₃)确定壁板(18)的壁厚(D)。