[发明专利]培养器无效

专利信息
申请号: 200680023989.1 申请日: 2006-06-23
公开(公告)号: CN101213289A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 清田泰次郎;鱼住孝之;米谷信彦;盐野博文 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: C12M1/00 分类号: C12M1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 林锦辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 培养
【说明书】:

技术领域

本发明涉及用于培养在被调节到预定环境条件的恒温室内部的培养容器中的样本的培养器。

背景技术

在背景技术中,通常使用具有恒温室的培养器,用于培养各种微生物或细胞。通常,培养器的恒温室配备有传感器和环境调节装置,其中所述传感器用于检测环境条件(例如,温度、湿度、二氧化碳浓度、氧气浓度、氮气浓度等)的当前值,所述环境调节装置用于调节上述各种参数。恒温室的内部被调节到预定环境条件。

此外,专利文献1公开了一种培养器,其具有传送装置,用于在恒温室内部传送培养容器以及显微镜单元,将培养容器传送进/出具有自动门的传送入口/出口,以及自动地传送培养容器或观测恒温室内的样本等。

根据专利文献1的培养器,传送装置的电动机及显微镜单元的照明光源的热源等被布置在恒温室的内部,因此,当传送培养容器或观测样本时,恒温室内部的温度上升。此外,当培养容器被传送进和传送出传送入口/出口时,由于打开和关闭自动门,恒温室内部的环境条件被改变。

然而,根据背景技术的培养器,当由于装置的操作带来环境条件的变化时,环境调节装置并不操作,直到在环境条件的参数中检测到等于或大于阈值的变化,并且由于在恒温室内部的环境条件中很容易产生相当大的非一致性,因此存在改进的余地。

专利文献1:日本未审专利申请公开No.2004-180675

发明内容

本发明要解决的问题

本发明用于解决背景技术中的上述问题,并且本发明的一个目的是提供能够显著地限制构成恒温室内部的环境变化因素的、由于装置的操作而产生的环境条件的变化。

用于解决问题的手段

本发明的第一方面具有一种培养器,该培养器包括被调节到预定环境条件的恒温室,用于培养该恒温室内部的培养容器中的样本。所述培养器包括移动机构,用于通过电动机移动所述培养容器在所述恒温室内部的位置;温度调节部件,用于调节所述恒温室内部的温度;操作信息生成部件,用于在操作电动机之前生成关于操作的位置和操作电动机的时间段的操作信息;估计变化量输出部件,用于基于所述操作信息,输出由于操作电动机而产生的温度状态的估计变化量;以及控制部件,用于与操作所述电动机同步地控制所述温度调节部件来消除所述估计变化量的温度变化。

本发明的第二方面,其中多个温度调节部件被布置在恒温室内部彼此不同的位置上,并且所述控制部件根据本发明的第一方面中的操作电动机的位置,彼此独立地改变各个温度调节部件的输出。

本发明的第三方面,其中,通过移动机构的操作来改变操作所述电动机的位置,并且所述控制部件基于本发明的第二方面中的操作电动机的位置中的变化,彼此独立地改变各个温度调节部件的输出。

本发明的第四方面具有一种培养器,该培养器包括被调节到预定环境条件的恒温室,用于培养该恒温室内部的培养容器中的样本。所述培养器包括照明光源,用于照射所述恒温室内部的培养容器;温度调节部件,用于调节所述恒温室内部的温度;操作信息生成部件,用于在操作所述照明光源之前生成关于所述照明光源的照射时间段的操作信息;估计变化量输出部件,用于基于所述操作信息,输出由于操作所述照明光源而产生的温度状态的估计变化量;以及控制部件,用于与操作所述照明光源同步地控制所述温度调节部件来消除所述估计变化量中的温度变化。

本发明的第五方面,其中多个温度调节部件被布置在恒温室内部彼此不同的位置上,并且布置在所述照明光源附近的区域处的温度调节部件在温度变化性能上被设置为高于处于根据本发明的第四方面的其它位置处的温度调节部件。

本发明的第六方面,其中估计变化量输出部件由记录有操作信息和估计变化量之间的对应关系的记录部件和基于本发明的第一到第五方面中的任何一个的操作信息计算估计变化量的计算部件中任何一个构成。

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