[发明专利]通过加氢异构和加氢裂化来自费-托合成法的原料制备中间馏出物的方法有效

专利信息
申请号: 200680022915.6 申请日: 2006-04-11
公开(公告)号: CN101208411A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: P·尤曾;C·古雷特 申请(专利权)人: 法国石油公司;恩尼有限公司
主分类号: C10G45/10 分类号: C10G45/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘冬;林森
地址: 法国吕埃*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 通过 加氢 加氢裂化 自费 成法 原料 制备 中间 馏出物 方法
【权利要求书】:

1.一种用加氢裂化/加氢异构催化剂由费-托合成法制备的链烷烃原料制备中间馏出物的方法,所述催化剂包含至少一种选自周期表第VIB族和第VIII族元素的加氢脱氢元素、0.2%重量至2.5%重量选自磷、硼和硅的掺杂元素的氧化物和包含大于5%重量至95%重量或更少氧化硅(SiO2)的基于氧化硅-氧化铝的非沸石载体,所述催化剂具有以下特征:

平均孔径由汞孔隙率法测定为20至140;

总孔体积由汞孔隙率法测定为0.1ml/g至0.5ml/g;

总孔体积由氮孔隙率法测定为0.1ml/g至0.5ml/g;

BET比表面积为100至550m2/g;

具有大于140直径的孔包含的孔体积由汞孔隙率法测定小于0.1ml/g;

具有大于160直径的孔包含的孔体积由汞孔隙率法测定小于0.1ml/g;

具有大于200直径的孔包含的孔体积由汞孔隙率法测定小于0.1ml/g;

具有大于500直径的孔包含的孔体积由汞孔隙率法测定小于0.1ml/g;

X射线衍射图谱至少包含至少一种选自α、ρ、χ、η、γ、κ、θ和δ氧化铝的过渡型氧化铝的特征主峰;

催化剂沉降堆积密度大于0.75g/cm3

2.权利要求1的方法,所述方法使用催化剂,其中具有大于500直径的孔包含的孔体积由汞孔隙率法测定严格大于0.01ml/g且小于0.1ml/g。

3.权利要求1或2的方法,所述方法使用包含镍-钨金属组合的催化剂。

4.前述权利要求中任一项的方法,所述方法使用其中掺杂元素为硼和/或磷的催化剂。

5.权利要求4的方法,所述方法使用其中掺杂元素为磷的催化剂。

6.权利要求5的方法,其中所述催化剂的磷含量为0.2%重量至2.5%重量氧化物。

7.权利要求5的方法,其中所述催化剂的磷含量为0.2%重量至2%重量氧化物。

8.前述权利要求中任一项的方法,所述方法使用催化剂,其中八面体AlVI的比例由固体27Al MAS NMR谱分析测定大于50%。

9.前述权利要求中任一项的方法,其中所述催化剂具有小于0.1%重量的阳离子杂质含量。

10.前述权利要求中任一项的方法,其中所述催化剂具有小于1%重量的阴离子杂质含量。

11.前述权利要求中任一项的方法,所述方法使用催化剂,其中所述载体的X射线衍射图谱至少包含至少一种选自η、θ、δ和γ氧化铝的过渡型氧化铝的特征主峰。

12.前述权利要求中任一项的方法,所述方法使用催化剂,其中所述载体的X射线衍射图谱至少包含至少一种选自η和γ氧化铝的过渡型氧化铝的特征主峰。

13.前述权利要求中任一项的方法,所述方法使用催化剂,其中

D平均-30至D平均+30的由汞孔隙率法测定的体积V2与总汞体积之比大于0.6;

具有大于D平均+30直径的孔包含的体积V3由汞孔隙率法测定小于0.1ml/g;

具有大于D平均+15直径的孔包含的体积V6由汞孔隙率法测定小于0.2ml/g。

14.前述权利要求中任一项的方法,其中所述催化剂的平均孔径为40至120。

15.前述权利要求中任一项的方法,其中所述催化剂沉降堆积密度大于0.85g/cm3

16.前述权利要求中任一项的方法,其中所述催化剂载体的酸度由IR监测吡啶的热解吸测定,使作为Bronsted位数与Lewis位数之比的B/L比率为0.05至1。

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