[发明专利]放电加工机的电源控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种对供给至下述形雕放电加工机的放电脉冲进行控制的电源控制装置，该形雕放电加工机通过在使加工电极与加工物相对而形成的加工间隙中进行脉冲放电，对加工物进行加工。

背景技术

在使加工电极与加工物相对而形成的加工间隙中进行脉冲放电，对加工物进行加工的形雕放电加工机中，目前，已知可以通过检测放电电压的高频成分并判断其大小，而识别放电加工时的放电状态。作为根据该高频成分识别放电状态的技术，已知例如在专利文献1中公开的技术。

图13是本质上与例如专利文献1所述的现有放电加工机的要部结构相同的电路图。在图中，向放电加工机的电极2和被加工物3之间的加工间隙供给脉冲状的放电电压。高通滤波器4提取该放电电压的高频成分。整流装置5将由高通滤波器4提取出的高频成分整流，作为输出信号Vrec输出。放电电压检测装置75，检测电极2和被加工物3之间的加工间隙的放电电压。放电电流检测装置76检测电极2和被加工物3之间的加工间隙的放电电流。

放电电压检测装置75的输出信号u及放电电流检测装置76的输出信号i，输入至逻辑电路77。由测量高通滤波器4的时间常数tH的时间常数测量装置70、和逻辑电路72形成延迟电路。使来自逻辑电路77的输出信号79输入至时间常数测量装置70及逻辑电路72，另外，使来自时间常数测量装置70的输出信号71输入至逻辑电路72。积分电路9由电容器C1及电阻R1构成，该电容器C1连接在运算放大器的反向(-)输入侧和输出侧间，该电阻R1串联连接在整流装置5的输出侧和运算放大器的反向(-)输入侧之间。而且，运算放大器的非反向(+)输入侧接地。

复位电路10由晶体管构成，该晶体管的集电极、发射极连接在电容器C1的两个端子间。来自逻辑电路72的输出信号73输入至复位电路10。来自积分电路9的运算放大器的输出信号即积分输出值Vint，输入至比较器78的反向(-)输入侧，基准电压Vref输入至比较器78的非反向(+)输入侧。

图14是图13所示的放电加工机的输入输出信号波形的时序图。在图中，波形A是电极2和被加工物3间的加工间隙的放电电压波形，波形B是高通滤波器4的输出信号波形，波形G是逻辑电路77的输出信号波形，波形H是时间常数测量装置70的输出信号波形，波形I是逻辑电路72的输出信号波形，波形F是积分电路9的积分输出信号波形。

下面，参照图13及图14对动作进行说明。在图14中，波形80是电极2和被加工物3间的加工间隙的放电电压波形，时间间隔Ton是放电脉宽，时间间隔Toff是间歇时间。在向电极2和被加工物3间的加工间隙施加电压后，发生放电。如果发生放电，则来自放电电压检测装置75及放电电流检测装置76的输出信号都为H(High：高)电平。这些输出信号输入至逻辑电路77。当上述输入信号都为H电平，即，在电极2和被加工物3间的加工间隙发生放电时，逻辑电路77输出L(Low：低)电平。以该时刻作为放电检测时刻t1。时刻t2是以该放电检测时刻t1为起点，经过高通滤波器4的时间常数tH后的时刻(t2＝t1+tH)。

波形82、波形83分别表示放电电压的高频成分和由高通滤波器4的过渡特性引起的干扰波形。时间常数测量装置70以逻辑电路77的输出信号79下降的时刻为起点，在tH时间内输出H电平(图14中H)。另外，使逻辑电路77的输出信号79和时间常数测量装置70的输出信号71输入至逻辑电路72，而由其输出图14的I所示的输出信号73。将该输出信号73下降的时刻，在图14的I中示为t2。在逻辑电路72的输出信号73为H电平期间，由复位电路10使积分电路9复位。即，仅在逻辑电路72的输出信号73为L电平的期间，利用积分电路9对来自整流装置5的输出信号Vrec进行积分。由比较器78比较基准电压Vref和图14的F所示的积分输出Vint，在放电脉宽Ton结束时刻，积分输出Vint大于基准电压Vref时，判断为正常放电脉冲，反之，则判断为电弧放电脉冲等异常放电脉冲。

另外，目前已知可以通过检测放电电压的电平而判断放电加工机放电加工时的放电状态。作为该根据放电电压的电平判断放电状态的技术，例如已知在专利文献2中公开的技术。