[发明专利]时间差测量装置和距离测量装置以及距离测量方法有效

专利信息
申请号: 200680020625.8 申请日: 2006-06-12
公开(公告)号: CN101194183A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 大石政裕;德田义克;大友文夫 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01C3/06;G04F10/06
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 时间差 测量 装置 距离 以及 测量方法
【权利要求书】:

1.一种时间差测量装置,用于测量以未知的时间差而产生的两个脉冲信号的该产生时间差,其特征在于,包括:

基准信号产生部,其产生周期已知的基准信号;

振幅检测部,其对应于所述两个脉冲信号的各个产生定时,在所述各脉冲信号的每个产生定时求每两个振幅,使得实质上,在与所述基准信号的大致π/2[rad]的相位差相当的时间间隔的两个定时分别对该基准信号的振幅进行采样的振幅相同;

相位差检测部,其基于在所述各脉冲信号的产生定时所分别求出的每两个振幅,求所述脉冲信号的每个产生定时的、所述基准信号的相位以及在这些产生定时之间的相位差;

校正部,其对由所述相位差检测部所检测的所述相位差,校正所述基准信号的误差或所述相位差大致π/2[rad]的误差;以及

时间差计算部,其基于由所述校正部校正之后的相位差,求所述两个测量用脉冲信号的产生时间差。

2.一种时间差测量装置,用于测量以未知的时间差而产生的两个脉冲信号的该产生时间差,其特征在于,包括:

基准信号产生部,其产生具有大致π/2[rad]的相位差、周期已知的至少两个基准信号;

振幅检测部,其求在所述脉冲信号的产生定时的所述两个基准信号的各振幅;

相位差检测部,其基于由所述振幅检测部按所述各基准信号检测出的每两个振幅,求所述脉冲信号的每个产生定时的、所述基准信号的相位以及在这些产生定时之间的相位差;

校正部,其对由所述相位差检测部所检测出的所述相位差,校正所述两个基准信号之间的误差或至少一个基准信号的误差所引起的误差;以及

时间差计算部,其基于由所述校正部所校正之后的相位差,求所述两个测量用脉冲信号的产生时间差。

3.如权利要求2所述的时间差测量装置,其特征在于,

所述校正部包括:

校正数据存储部,其存储了用于校正所述误差的校正用数据;以及

校正运算部,其使用该校正数据存储部中所存储的所述校正用数据,进行校正运算处理。

4.如权利要求2所述的时间差测量装置,其特征在于,

所述校正部包括:

模式切换部,其切换实际测量模式和校正模式,所述实际测量模式时输入所述产生时间差测量对象的脉冲信号即测量用脉冲信号,所述校正模式时输入产生定时之间的时间差已知的校正用脉冲信号;

校正用数据生成部,其根据通过在所述校正模式中输入所述校正用脉冲信号而由所述相位差检测部所计算出的、所述校正用脉冲信号的各产生定时之间的相位差和所述已知的时间差的对应关系,生成用于校正所述误差的校正用数据;

校正数据存储部,其存储由所述校正用数据生成部所生成的所述校正用数据;以及

校正运算部,其使用在该校正数据存储部中所存储的所述校正用数据,对与所述实际测量模式中所得到的所述测量用脉冲信号的产生定时之间的时间差对应的所述相位差进行校正运算处理。

5.如权利要求2所述的时间差测量装置,其特征在于,

所述校正部包括:

采样定时形成部,其产生产生定时之间的时间差为等间隔的校正用脉冲信号;

模式切换部,其切换实际测量模式和校正模式,所述实际测量模式时输入所述产生时间差测量对象的脉冲信号即测量用脉冲信号,所述校正模式时输入校正用脉冲信号;

校正用数据生成部,其根据通过在所述校正模式中输入所述校正用脉冲信号而由所述相位差检测部所计算出的、所述校正用脉冲信号的各产生定时之间的相位差和所述等间隔的时间差的对应关系,生成用于校正所述误差的校正用数据;

校正数据存储部,其存储由所述校正用数据生成部所生成的所述校正用数据;以及

校正运算部,其使用在该校正数据存储部中所存储的所述校正用数据,对与所述实际测量模式中所得到的所述测量用脉冲信号的产生定时之间的时间差对应的所述相位差进行校正运算处理。

6.如权利要求5所述的时间差测量装置,其特征在于,

所述采样定时形成部产生的所述校正用脉冲信号是与所述基准信号产生部所产生的基准信号以多次中一次的比例同步的等间隔的脉冲信号。

7.如权利要求5所述的时间差测量装置,其特征在于,

所述采样定时形成部产生的所述校正用脉冲信号与所述基准信号产生部产生的基准信号不同步,并且是等间隔的脉冲信号。

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