[发明专利]多辐射束光学扫描设备无效
| 申请号: | 200680015113.2 | 申请日: | 2006-04-26 |
| 公开(公告)号: | CN101171630A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
| 发明(设计)人: | B·H·W·亨德里克斯;S·斯塔林加;S·凯帕;T·W·图克;C·T·H·F·利登鲍姆;A·H·J·英明克 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李静岚;谭祐祥 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 光学 扫描 设备 | ||
1.一种光学扫描设备(1),用于扫描光学记录载体(3)的信息层(2),该设备包括:
辐射源(7;7a,7b,7c),用于提供沿第一光学路径的至少第一辐射束,和沿不同的第二光学路径的第二辐射束;
物镜系统(8),具有光轴(19a),用于把所述辐射束会聚在所述信息层(2)上;以及
光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a),被设置成向光轴(19a)折射至少所述第二辐射束,其中光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a)包括至少一种流体(A,B,B’;730)和控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312;734,736),该控制器用于改变所述流体的配置以在预定的范围上可控制地改变由光束偏转元件所提供的折射量。
2.如权利要求1要求的设备,其中所述流体包括双折射材料(732),以及控制器(734,736)被设置以改变双折射材料的优先轴的取向。
3.如权利要求2要求的设备,其中所述双折射材料(732)包括液晶,以及控制器(734,736)被设置以在液晶(732)上提供电场,用于改变液晶的取向。
4.如权利要求1要求的设备,其中所述元件包括腔室,以及所述至少一个流体包括第一极性流体(B;B’)和第二绝缘流体(A),这两种流体是不可混和的且沿界面(80;86,88;94)分隔开的,并且控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312;734,736)被设置来经由电润湿效应改变界面(80;86,88;94)的配置。
5.如权利要求4要求的设备,其中控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312)被设置来改变界面(80;86,88;94)的形状。
6.如权利要求4或权利要求5要求的设备,其中所述控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312)被设置来改变界面相对于光轴的角度。
7.如权利要求4到6中的任何一项所要求的设备,其中所述界面(80;86,88;94)基本上是平面的。
8.如以上任何一项权利要求所要求的设备,其中控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312;734,736)被设置来根据表示由所述辐射源(7;7a,7b,7c)提供哪个辐射束的信号,改变由光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a)所提供的折射。
9.如以上任何一项权利要求所要求的设备,还包括检测器(23),用于检测从光学记录载体(3)反射的至少一部分辐射束,以及其中控制器(112,141,143;241a,243a,212,241b,243b;341,343,312;734,736)被设置来根据由所述检测器检测的的信号,改变由光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a)所提供的折射。
10.如以上任何一项权利要求所要求的设备,其中所述设备包括检测器(23),用于检测从光学记录载体(3)反射的至少一部分辐射束;以及
分束器(9),用于向光学记录载体(3)传送从辐射源接收的入射辐射束,和用于向检测器(23)传送从光学记录载体反射的光束;以及
其中光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a)被定位在辐射源(7;7a,7b,7c)与分束器(9)之间。
11.如以上任何一项权利要求所要求的设备,还包括像散校正板(32),其用于抵消由光束偏转元件(30)引入到光束中的像散。
12.如以上任何一项权利要求所要求的设备,其中光束偏转元件(30;130;230;330;730;30a)被设置来进一步折射第二辐射束,以便沿光轴(19a)引导第二辐射束的光学路径。
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