[发明专利]使用时间数字信号处理的X射线成像有效

专利信息
申请号: 200680013859.X 申请日: 2006-04-25
公开(公告)号: CN101296658A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 卢健平;周子刚;章健 申请(专利权)人: 北卡罗来纳大学查珀尔希尔分校
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 美国北*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 使用时间 数字信号 处理 射线 成像
【权利要求书】:

1.一种X射线成像系统,包括:

(a)X射线源,用于产生具有一预定频率的脉冲X射线束,并且将所述脉冲X射线束施加到将要成像的物体上;

(b)X射线探测器,用于探测来自所述物体的X射线辐射,并且根据所述X射线辐射产生时间数据;以及

(c)时间数据分析器,用于将时间信号处理应用于所述时间数据,以移除具有与所述预定频率不同频率的至少一部分时间数据。

2.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述X射线源包括:

(a)电子场发射器,用于产生具有所述预定频率的脉冲电子束;以及

(b)目标结构,定位以接收所述脉冲电子束,并且在接收所述脉冲电子束时产生所述脉冲X射线束。

3.根据权利要求2所述的X射线成像系统,其中,所述电子场发射器包括选自下列组的部件:纳米管、纳米棒、Spindt尖端和钻石纳米微粒。

4.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述X射线探测器包括高帧频数字探测器。

5.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述X射线探测器包括选自下列组的探测器:一个或多个Si-PIN光敏二极管X射线探测器、一个或多个电荷耦合设备面探测器、一个或多个非晶硒面探测器,以及一个或多个非晶硅面探测器。

6.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述时间信号处理包括时间傅立叶分析。

7.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述时间信号处理包括时间小波分析。

8.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中,所述具有与所述预定频率不同频率的至少一部分时间数据与探测到的X射线辐射中的噪声相对应。

9.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其包括时间变换函数,用于基于所述时间数据产生频域能谱。

10.根据权利要求9所述的X射线成像系统,其包括频率带宽滤波器,用于滤除与所述预定频率不相对应的所述频域能谱部分。

11.根据权利要求10所述的X射线成像系统,其中,所述频率带宽滤波器用于丢弃与所述预定频率不相对应的所述频域能谱部分。

12.根据权利要求1所述的X射线成像系统,包括载物台,用于旋转所述物体到与所述X射线束相关的不同位置。

13.一种多像素、X射线成像系统,包括:

(a)X射线源,用于产生具有不同预定频率的多个脉冲X射线束,并且将所述脉冲X射线束施加到将要成像的物体上;

(b)X射线探测器,用于探测来自所述物体的X射线辐射,并且基于所述X射线辐射产生时间数据;以及

(c)时间数据分析器,用于将时间信号处理应用于所述时间数据,从而解析出其频率与所述多个预定频率相同的时间数据。

14.根据权利要求13所述的X射线成像系统,其中,所述X射线源包括:

(a)电子场发射器,用于产生具有不同预定频率的多个脉冲电子束;以及

(b)至少一个目标结构,定位以接收所述脉冲电子束,并且在接收所述脉冲电子束时产生所述脉冲X射线束。

15.根据权利要求14所述的X射线成像系统,其中,所述电子场发射器包括选自下列组的部件:纳米管、纳米棒、Spindt尖端和钻石纳米微粒。

16.根据权利要求14所述的X射线成像系统,其包括耦合到所述电子场发射器、用于向所述电子场发射器提供电流的阴极。

17.根据权利要求13所述的X射线成像系统,其中,所述X射线源用于对所述脉冲X射线束进行小波编码。

18.根据权利要求17所述的X射线成像系统,其中,所述时间数据分析器用于对所述时间数据进行小波解码。

19.根据权利要求13所述的X射线成像系统,其中,所述X射线源包括多个像素,用于产生所述脉冲X射线束,并且其中,所述X射线源用于由不同角度从所述不同像素向所述物体施加所述脉冲X射线束。

20.根据权利要求13所述的X射线成像系统,其中,所述X射线源用于以预定顺序施加所述脉冲X射线束。

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