[发明专利]用于离子束均匀性的栅格透明度和栅格孔图案控制有效

专利信息
申请号: 200680010822.1 申请日: 2006-03-31
公开(公告)号: CN101495981A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 龟山育也;丹尼尔·E·西格弗里德 申请(专利权)人: 威科仪器有限公司
主分类号: G06F15/00 分类号: G06F15/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;李丙林
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 离子束 均匀 栅格 透明度 图案 控制
【权利要求书】:

1.一种用于产生用于束栅格的孔的改变图案的设计方法,包括:

确定待被更改的用于束栅格的孔的初始图案;

获得用于所述束栅格的孔的所述初始图案的变化系数;

基于孔的所述初始图案,利用所述变化系数来产生用于 所述束栅格的孔的所述改变图案。

2.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述变化系数是孔位 置变化系数或孔直径变化系数中的一个或两个。

3.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述获得操作包括求 解微分方程。

4.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述获得操作包括求 解以下微分方程中的一个或两个:

dRdr=r×f(r)R×F(R),]]>其中,

r表示初始图案孔位置的径向座标;

f(r)表示初始栅格图案的栅格透明度;

F(R)表示改变栅格图案的栅格透明度;以及

R表示用于产生所述改变栅格图案的所述变化系数,

或者

dXdx=h(x)H(X),]]>

其中,x表示初始图案孔位置的卡迪尔座标,

h(x)表示初始栅格图案的栅格透明度;

H(X)表示改变栅格图案的栅格透明度;以及

X表示用于产生所述改变栅格图案的所述变化系数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威科仪器有限公司,未经威科仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680010822.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top