[发明专利]用于离子束均匀性的栅格透明度和栅格孔图案控制有效
| 申请号: | 200680010822.1 | 申请日: | 2006-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN101495981A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
| 发明(设计)人: | 龟山育也;丹尼尔·E·西格弗里德 | 申请(专利权)人: | 威科仪器有限公司 |
| 主分类号: | G06F15/00 | 分类号: | G06F15/00 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;李丙林 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 离子束 均匀 栅格 透明度 图案 控制 | ||
1.一种用于产生用于束栅格的孔的改变图案的设计方法,包括:
确定待被更改的用于束栅格的孔的初始图案;
获得用于所述束栅格的孔的所述初始图案的变化系数;
基于孔的所述初始图案,利用所述变化系数来产生用于 所述束栅格的孔的所述改变图案。
2.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述变化系数是孔位 置变化系数或孔直径变化系数中的一个或两个。
3.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述获得操作包括求 解微分方程。
4.根据权利要求1所述的设计方法,其中,所述获得操作包括求 解以下微分方程中的一个或两个:
r表示初始图案孔位置的径向座标;
f(r)表示初始栅格图案的栅格透明度;
F(R)表示改变栅格图案的栅格透明度;以及
R表示用于产生所述改变栅格图案的所述变化系数,
或者
其中,x表示初始图案孔位置的卡迪尔座标,
h(x)表示初始栅格图案的栅格透明度;
H(X)表示改变栅格图案的栅格透明度;以及
X表示用于产生所述改变栅格图案的所述变化系数。
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