[发明专利]测试准备RF集成电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试准备(test prepared)集成电路，特别地，涉及一种集成电路，具有例如用于处理高频信号(例如微波信号)的本地振荡器电路和混频电路的元件。本发明还涉及这种集成电路的测试方法。

背景技术

R.Nelson于4/1/2002在Test and MeasuRFment world出版的文章″RF test join SOC ATE″中描述了对包含RF电路和逻辑电路的混合的集成电路的测试。半导体集成电路生产技术的当前的工艺水平使得生产具有处理RF信号的综合能力的集成电路逐渐成为可能。这里所使用的″RF″，泛指那些具有用于无线传输的频率(例如，10GHz以上的微波波段)的信号，但也指较低频率的波段。

RF电路的主要测试包括：将该电路在正常运行过程中所将要使用的频率的RF信号应用于电路，或者，在该电路产生这些信号后对这些信号进行测量。另一方面，一般是通过以低得多的频率施加逻辑测试图案并观测测试响应来测试集成电路的逻辑函数。用于后一类测试的测试设备在大多数集成电路生产设施中一般是标准化的，并且被用于几乎所有更复杂的数字集成电路。另一方面，用于RF测试的设备并非是可广泛利用的，这意味着，如果必须要制造和测试具有RF电路的集成电路，就有可能需要额外的投资。

发明内容

特别地，本发明的目的是提供一种测试准备集成电路，其有利于RF电路元件的测试，而不必使用专门的RF测试设备。

本发明提供根据权利要求1的测试准备集成电路。在测试过程中，该集成电路使用测试控制输入来控制用具有分频的信号代替本地振荡器信号。优选地，该集成电路包括具有分频器电路的测试功能块，其中，该分频器电路正是出于此目的而提供的。优选地，在正常运行过程中，这个电路是被禁用的。测试控制输入可以是集成电路的专用引脚，其与实现该替换的测试控制块相连。可选地，测试控制输入可以是来自该集成电路中的测试控制电路的内部线路(internal line)，该测试控制电路是扫描测试接口的一部分，例如用于产生控制替换的控制信号，或者，该测试控制输入可以来自该集成电路中的其它命令接口电路。

在一个实施例中，集成电路包括正交混频电路(quadrature mixingcircuit)。在这个实施例中，在混频电路中，可以在本地振荡器的I和Q输入处替换分频器电路的输出信号。在另一个实施例中，提供切换电路，以将正交的本地振荡器的输出信号的相位关系的干扰最小化。

本发明还提供一种测试方法，其中，分频的本地振荡器信号代替本地振荡器信号，以低于在正常(非测试)运行过程中提供给混频电路的频率而被施加于该混频电路。

附图说明

下面，将使用附图中所示出的实施例来描述本发明的这些及其它目的和优点。

图1示意性地示出了测试准备集成电路。

图2示出了测试功能块的实施例。

图3示出了测试环境。

图4示意性地示出了测试准备集成电路。

图5-7示出了测试功能块的其它实施例。

图8示意性地示出了测试准备集成电路。

具体实施方式

图1示意性地示出了测试准备集成电路10。集成电路10包括RF放大器电路12、混频电路14、IF放大器电路16、本地振荡器电路18及测试功能块100。集成电路10的输入端11与RF放大器电路12的输入相连。RF放大器电路12的输出与混频电路14的第一输入相连。混频电路14的输出与IF放大器电路16的输入相连，IF放大器电路16的输出与集成电路10的输出端19相连。在另一实施例中，集成电路10可以是RF产生电路，其中，放大器电路12是IF放大器电路而放大器电路16是RF放大器电路。本地振荡器电路18的输出与测试功能块100的信号输入相连，而测试功能块100的输出与混频电路14的第二输入相连。本地振荡器电路18具有与集成电路10的输入端17相连的控制输入。测试功能块100具有与集成电路10的测试端102相连的控制输入。

图2示出了测试功能块100。测试功能块100包括分频器电路32和多路复用电路30。测试功能块100与本地振荡器电路(未示出)相连，测试功能块100的输入34与分频器电路30的输入以及多路复用电路32的第一输入相连。分频器电路30的输出与多路复用电路32的第二输入相连。多路复用电路32的输出与混频电路(未示出)的第二输入相连。集成电路的测试端102与多路复用电路32的控制输入以及分频器电路30的启用输入相连。