[发明专利]测试装置、测试方法、及测试控制程序无效

专利信息
申请号: 200680009166.3 申请日: 2006-03-14
公开(公告)号: CN101147075A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 熊木德雄 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 方法 控制程序
【权利要求书】:

1.一种测试装置,是测试多个被测器件的测试装置,其特征在于包括:连接到所述多个被测器件,进行该当多个被测器件的测试的多个测试模块、

根据被指定的工作模式,控制所述多个测试模块的测试动作的中央处理装置;

所述中央处理装置,在所指定的所述工作模式是通过所述多个测试模块同时并行进行同一测试的并行测试模式的情况下,通过执行预先确定的一个测试用过程,来控制所述多个测试模块的每个中的测试动作,

在所指定的所述工作模式是通过所述多个测试模块的每一个,独立进行相互不同的测试的独立测试模式的情况下,

对每个测试模块执行控制该测试模块的测试用过程,通过边切换边执行多个该当测试用过程,并行控制所述多个测试模块。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于所述多个测试模块的每一个,在接受了对应的测试用过程的控制时,进行根据该控制内容的测试动作,

所述中央处理装置在被指定的所述工作模式是所述独立测试模式时,

在第1所述测试模块及第2所述测试模块都在等待对应的测试用过程的控制的状态中,让与所述第1测试模块对应的第1所述测试用过程的执行,优先于所述第2测试模块对应的第2所述测试用过程的执行而先完成,以所述第1测试模块进行测试动作的状态,控制第2所述测试模块。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于所述中央处理装置,在所述第1测试用过程存取所述第1测试模块而处于等待状态之间时,代替所述第1测试用过程,执行所述第2测试用过程。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于所述中央处理装置,在所述第1测试用过程对所述第1测试模块的存取结束时,代替所述第2测试用过程的执行,再开始所述第1测试用过程的执行。

5.一种测试方法,其特征是通过测试多个被测器件的测试装置,来测试所述多个被测器件的测试方法,所述测试装置包括,连接到所述多个被测器件,进行该当多个被测器件的测试的多个测试模块、

根据被指定的工作模式,控制所述多个测试模块的测试动作的中央处理装置、

通过所述中央处理装置,在指定的所述工作模式是通过所述多个测试模块同时并行进行同一测试的并行测试模式时,通过执行预先确定的一个测试用过程,来控制所述多个测试模块的每个中的测试动作,

在指定的所述工作模式,是通过所述多个测试模块的每一个,独立执行相互不同的测试的独立测试模式时,对每个测试模块执行控制该当测试模块的测试过程,通过一边转换一边执行多个该当测试用过程,以并行控制所述多个测试模块。

6.一种测试控制程序,其特征是控制测试多个被测器件的测试装置的测试控制程序,

所述测试装置包括,连接到所述多个被测器件,进行该当多个被测试器件的测试的多个测试模块、

根据被指定的工作模式,控制所述多个测试模块的测试动作的中央处理装置、

让所述中央处理装置,在指定的所述工作模式是通过所述多个测试模块同时并行进行同一测试的并行测试模式时,

通过执行预先确定的一个测试用过程,来控制所述多个测试模块的每个中的测试动作,

被指定的所述工作模式,是根据所述多个测试模块的每一个,独立执行相互不同的测试的独立测试模式时,对每个测试模块执行控制该当测试模块的测试用过程,通过边转换边执行多个该当测试用过程,以并行控制所述多个测试模块。

7.一种存储介质,其特征是存储了控制测试多个被测器件的测试装置的测试控制程序的存储介质,所述测试装置包括,连接到所述多个被测器件,进行该当多个被测器件的测试的多个测试模块、

根据被指定的工作模式,控制所述多个测试模块的测试动作的中央处理装置、

所述测试控制程序,使所述中央处理装置,在指定的所述工作模式是通过所述多个测试模块同时并行进行同一测试的并行测试模式时,

通过执行预先确定的一个测试用过程,来控制所述多个测试模块的每个中的测试动作,

被指定的所述工作模式,在根据所述多个测试模块的每一个,独立执行相互不同的测试的独立测试模式时,对每个测试模块执行控制该当测试模块的测试用过程,通过一边转换一边执行多个该当测试用过程,以并行控制所述多个测试模块。

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