[发明专利]用于检测机械部件的位置和/或形状的设备和方法

权利要求书

1.用于检测机械部件(40；50)的位置和/或形状的光电设备，该设备包括：

底座(1)；

待测部件(40；50)的锁定和参照系统(31)；

具有光电系统(53)的检测装置，所述光电系统(53)用于提供指示待测部件(40；50)的至少一些部分(51)的位置的信号；

转动系统(26)，所述转动系统(26)可以围绕转动纵轴使所述光电系统(53)与所述待测部件(40；50)之间进行转动移动；和

处理单元(25)，所述处理单元(25)用于接收所述光电系统(53)的信号和提供关于所述待测部件(40；50)的位置和/或形状的信息；

其特征在于，该设备还包括横向平移系统(9)，所述横向平移系统(9)定义了相对于所述转动纵轴横向的平移轴，并且可以沿着所述平移轴使所述光电系统(53)与所述待测部件(40；50)之间进行平移移动。

2.根据权利要求1所述的设备，用于检测具有至少一个基本平的表面(51)的机械部件(40；50)，其中，所述光电系统(53)提供有关所述基本平的表面(51)的信号，所述横向平移系统(9)用于沿着所述平移轴使所述光电系统(53)与所述基本平的表面(51)之间进行平移移动。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述锁定和参照系统(31)与所述底座(1)连接，所述光电系统(53)与所述转动系统(26)连接。

4.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，其中，所述光电系统(53)与所述横向平移系统(9)连接。

5.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，其中，所述转动系统(26)包括转动台(13)，所述光电系统(53)与所述转动台(13)连接。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述转动台(13)与所述横向平移系统(9)连接。

7.根据权利要求5或6所述的设备，该设备包括与所述转动台(13)连接的支撑件(15)，所述光电系统(53)包括发射器(54)和接收器(55)，所述发射器(54)和接收器(55)与所述支撑件(15)的自由端连接。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述光电系统(53)为投影型光电系统。

9.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，其中，所述平移轴与所述转动纵轴垂直。

10.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，其中，所述转动系统(26)和所述横向平移系统(9)包括相关联的驱动装置(24、27)和相关联的检测装置(29)，所述驱动装置(24、27)和检测装置(29)与所述处理单元(25)连接。

11.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，该设备包括纵向平移系统(3)，该纵向平移系统(3)定义了与所述平移轴垂直的纵轴，所述纵向平移系统(3)用于沿着所述纵轴使所述部件(40；50)与所述光电系统(53)之间进行相互平移移动。

12.根据权利要求11所述的设备，其中，所述纵向平移系统(3)包括相关联的驱动和检测装置，该驱动和检测装置与所述处理单元(25)连接。

13.根据以上权利要求中任意一项所述的设备，该设备包括参照块(59)，所述参照块(59)与所述待测部件(40；50)的锁定和参照系统(31)固定连接，所述参照块(59)包括表面(58)，该表面(58)定义了所述光电系统(53)的参考平面(r)。