[发明专利]用于测量脑参数的装置无效

专利信息
申请号: 200680005917.4 申请日: 2006-01-21
公开(公告)号: CN101128148A 公开(公告)日: 2008-02-20
发明(设计)人: R·雷切伯格;G·昆泽;K-H·格勒 申请(专利权)人: 劳梅迪奇股份公司
主分类号: A61B5/03 分类号: A61B5/03
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 吴鹏;马江立
地址: 德国黑尔*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 参数 装置
【权利要求书】:

1.用于测量脑参数的装置(1),

-该装置包括导管传感器单元(2),该导管传感器单元

--可通过穿过颅骨(4)以最小侵入的方式在远端植入到软组织和/或脑室中,

--可在近端固定在所述颅骨(4)上,

其特征在于,所述传感器单元(2)的近端圆周部分具有用于将所述传感器单元(2)固定在所述颅骨(4)上的自攻外螺纹(5)。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述外螺纹(5)是所述传感器单元(2)的一体组成部分。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述外螺纹(5)构造成使得所述传感器单元(2)可通过所述外螺纹(5)相对于所述颅骨(4)密封。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述外螺纹(5)由密封材料制成。

5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述外螺纹(5)具有密封涂层。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置,其特征在于,所述传感器单元(2)在近端端部(9)处具有可靠置在所述颅骨(4)上的止动部(10)。

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