[发明专利]无损检测探头的定位无效
| 申请号: | 200680005326.7 | 申请日: | 2006-02-22 |
| 公开(公告)号: | CN101120267A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
| 发明(设计)人: | 塞巴斯蒂安·罗莱;卡皮西纳·卡彭铁尔 | 申请(专利权)人: | 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国 |
| 主分类号: | G01S5/30 | 分类号: | G01S5/30 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 杨生平;杨红梅 |
| 地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 无损 检测 探头 定位 | ||
1.一种对装置(4)定位的系统(10),所述装置例如是测量探头,所述系统包括:
●信号发射器(12);
●所发射信号的两个接收器(14、16);
●用于激励发射器(12)的装置;
●用以确定所述激励产生的信号发射和每个接收器(14、16)对信号的接收之间的持续时间的装置;
其特征在于所述发射器(12)和接收器(14、16)可以彼此独立地定位。
2.根据权利要求1的系统,其中所述发射器12包括用于与装置(4)耦合的装置,并且/或者每个接收器(14、16)包括用于与表面(2)相联的装置。
3.根据权利要求1或2的系统,包括用于发射同步脉冲的装置,该装置用作激励发射器(12)的装置,其中,用于确定持续时间的装置在操作上与用于发射脉冲的装置耦合。
4.根据权利要求3的系统,其中所述信号为超声波,并且所述接收器(14、16)与计数器相联,所述计数器用来测量所述脉冲和所述接收器(14、16)接收到超声波之间的延迟。
5.根据权利要求4的系统,其中,发射器(12)为压电膜的形式。
6.根据权利要求3至5中任何一项的系统,其中,所述用于发射脉冲的装置被配置为重复发射脉冲,尤其是以固定频率发射脉冲。
7.根据权利要求1至6中任何一项的系统,包括壳体(20),该壳体包括用于激励发射器(12)的装置、确定所述激励产生的信号发射与每个接收器(14、16)对信号的接收之间的持续时间的装置,并且所述发射器(12)和所述接收器(14、16)通过线连接(18)与所述壳体耦合。
8.根据权利要求1至7中任何一项的系统,还包括根据所确定的持续时间通过三角测量法确定所述发射器(12)的位置的装置。
9.根据权利要求7的系统,还包括根据所确定的持续时间通过三角测量法确定所述发射器(12)的位置的装置,其中,所述壳体包括通信端口(22),所述用于确定位置的装置连接到所述通信端口。
10.根据权利要求9的系统,其中,所述通信端口(22)为USB端口。
11.根据权利要求8至10中任何一项的系统,包括用于校准所述发射器(12)和接收器(14、16)的相对位置的装置。
12.根据权利要求11的系统,其中所述校准装置包括定位辅件(30)和导引所述校准过程的装置。
13.一种用于确定测量探头(4)在待分析区域(1)上的定位的方法,包括:
●将所述测量探头(4)与信号发射器(12)耦合;
●将两个独立的接收器(14、16)置于包括所述待分析区域(1)的表面(2)上;
●发射用于激励所述信号发射器(12)的脉冲;
●测量所述脉冲与所述接收器(14、16)对所述信号的接收之间的持续时间;
●工具所测得的持续时间通过三角测量法确定所述探头(4)的位置。
14.根据权利要求13的方法,其中,所述待分析的区域(1)是一种材料表面的一部分,并且所述接收器(14、16)定位在所述表面(2)的所述待分析部分(1)之外的部分上。
15.根据权利要求13至14中任何一项的方法,包括对两个接收器(14、16)的定位的校准。
16.根据权利要求15的方法,其中,所述校准包括将所述探头(4)定位在至少基本位于两个接收器(14、16)之间的垂直平分线(36)上的两个点中。
17.根据权利要求16的方法,其中所述校准包括将所述探头(4)定位在沿所述垂直平分线(36)以均匀距离间隔开的至少三个点上。
18.根据权利要求16至17的任何一项的方法,其中所述探头(4)的定位借助定位辅件(30)来执行。
19.一种使用根据权利要求13至18中任何一项的方法对表面绘图的方法,其中,对每个绘图点重复执行发射、测量持续时间以及确定步骤。
20.根据权利要求13至19中任何一项的方法,其中所述发射器(12)及接收器(14、16)使用超声波信号。
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