[发明专利]使用MRAM传感器的磁存储系统无效
| 申请号: | 200680002886.7 | 申请日: | 2006-01-19 |
| 公开(公告)号: | CN101167136A | 公开(公告)日: | 2008-04-23 |
| 发明(设计)人: | 弗里斯科·J·耶德玛;汉斯·M·B·波依;亚普·鲁伊戈罗克 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 mram 传感器 存储系统 | ||
1.一种磁存储系统(1、20),包括信息层(13)以及用于和信息层(13)进行合作的传感器(2、22),
信息层(13)包括组成比特位置阵列的磁比特(4a、4b、4c、4d、24a、24c、24d)图案,比特位置处的比特磁场(3a、3b、3c、3d)表示逻辑值(L0、L1/2、L1),比特磁场(3a、3b、3c、3d)具有比特磁场强度和比特磁化方向(5a、5b、5d、25a、25d),
传感器(2、22)包括磁电阻元件(6、26),磁电阻元件(6、26)包括具有固定磁性层(7)和自由磁性层(8)的叠层,固定磁性层(7)具有固定磁化方向(9),自由磁性层(8)具有磁化轴(1 0),自由磁性层沿着该磁化轴保持自由磁化方向(11b、11c、21b、21c),
其中,通过提供由大致与磁化轴(10)平行的自由磁化方向(11c、11b、21b、21c)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第一电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第一比特磁场(3b、3c)表示第一逻辑值(L0、L1/2、L1),并通过提供由与磁化轴(10)呈某个角度(12a、12d、27)的自由磁化方向(11a、11d、21a、21d)所引起的磁电阻元件(6、26)中的第二电阻值(Rmax、Rmid、Rmin),在比特位置中的一个处的第二比特磁场(3a、3d)表示第二逻辑值(L0、L1/2、L1)。
2.根据权利要求1所述的系统(1、20),其中,第一比特磁场(3c)具有大致为零的第一磁场强度。
3.根据权利要求1或2所述的系统(1、20),其中,第二比特磁场(3a、3b)具有与磁化轴(10)大致垂直的第二磁化方向(5a、5d、25a、25d)。
4.根据1利用1、2或3所述的系统(1、20),其中,通过提供由与磁化轴(10)呈另一个角度(12d)的自由磁化方向(11d、21d)所引起的磁电阻元件(6、26)中的另一个电阻值(Rmax),在比特位置中的一个处的另一个比特磁场(3d)表示另一个逻辑值(L1),所述另一个角度(12d)与导致第二逻辑值(L0)的角度(12a、27)不同。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的系统(1、20),其中,固定磁化方向(9)与自由磁性层(8)的磁化轴(10)大致平行。
6.根据权利要求1、2、3或4所述的系统(1、20),其中,固定磁化方向(9)与自由磁性层(8)的磁化轴(10)大致垂直。
7.根据权利要求1所述的系统(1、20),其中,系统(1、20)包括参考电路(14),参考电路(14)根据参考磁电阻元件而提供至少一个参考值(Ref1、Ref2),用于把第一电阻值(Rmax、Rmid、Rmin)与第二电阻值(Rmax、Rmid、Rmin)进行区分。
8.根据权利要求7所述的系统(1、20),其中,参考电路(14)根据参考磁电阻元件而提供至少第二参考值(Ref1、Ref2),用于对设置在两个参考值(Ref1、Ref2)之间的电阻值进行区分。
9.根据上述任意一项权利要求所述的系统(1、20),其中,通过在比特位置中的一个处存在或不存在磁化的磁性材料(4a、4b、4d、24a、24d)而提供所述在比特位置中的一个处的比特磁场(3a、3b、3c、3d)。
10.根据上述任意一项权利要求所述的系统(1、20),其中,传感器(22)包括磁电阻元件(26)的二维阵列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于NXP股份有限公司,未经NXP股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680002886.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种大功率LED射灯
- 下一篇:具有双导流装置的餐具洗涤烘干机





