[发明专利]通过粗糙化而改善光取出的发光二极管有效

专利信息
申请号: 200680002142.5 申请日: 2006-01-09
公开(公告)号: CN101103439A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 段忠;陈长安 申请(专利权)人: 美商旭明国际股份有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 通过 粗糙 改善 取出 发光二极管
【权利要求书】:

1.一种半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,包含:

形成该VLED装置的多层磊晶结构,其包含一n型氮化镓(n-GaN)层、一活性层、及一p型氮化镓(p-GaN)层;以及

使该VLED装置的该n-GaN层的表面于水溶液中粗糙化。

2.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该n-GaN层通过湿式蚀刻工艺加以粗糙化。

3.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含氧化及蚀刻该LED。

4.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该氧化及蚀刻于具有水溶液的系统中实施。

5.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该水溶液可为氧化剂及酸性或碱性溶液的组合。

6.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该氧化剂包含H2O2、K2S2O8其中之一或其组合。

7.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该酸性溶液包含H2SO4、HF、HCl、H3PO4、HNO3及CH3COOH其中之一或更多。

8.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该碱性溶液包含KOH、NaOH、及NH4OH其中之一或其组合。

9.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含以波长范围在可见光与紫外光光谱之间的Hg或Xe弧光灯系统来照亮该LED。

10.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该n-GaN层以小于200mW/cm2的光强度曝光。

11.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含对该导电基板施以电偏压且将电压控制于-5V与+5V之间。

12.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含控制氧化支配、蚀刻支配、或两反应,以使该n-GaN层的该表面的粗糙度最佳化。

13.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含改变该水溶液的组成、电偏压、以及照光强度。

14.一种n侧在上(n-side up)LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该LED晶圆具有一金属基板,该方法包含:

在一承载基板上方沉积一n-GaN部分;

在该n-GaN部分上方沉积活性层;

在这些活性层上方沉积一p-GaN部分;

沉积一或更多金属层;

施加一遮罩层;

蚀刻该金属层、p-GaN层、活性层、及n-GaN层;

移除该遮罩层;

沉积一钝化层;

将位于该p-GaN层顶部上的该钝化层的部分移除,以曝露该金属层;

沉积一或更多金属层;

沉积一金属基板;

移除该承载基板以暴露该n-GaN表面;

将该n-GaN表面粗糙化。

15.如权利要求14所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该n侧在上LED晶圆的该n-GaN层于该粗糙化工艺之前实质上是光滑且平坦的。

16.如权利要求15所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该n侧在上LED晶圆的该n-GaN层于该n-GaN层经粗糙化之前具有小于5000的表面粗糙度。

17.如权利要求14所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该承载基板是蓝宝石。

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