[发明专利]通过粗糙化而改善光取出的发光二极管有效
| 申请号: | 200680002142.5 | 申请日: | 2006-01-09 |
| 公开(公告)号: | CN101103439A | 公开(公告)日: | 2008-01-09 |
| 发明(设计)人: | 段忠;陈长安 | 申请(专利权)人: | 美商旭明国际股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
| 地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通过 粗糙 改善 取出 发光二极管 | ||
1.一种半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,包含:
形成该VLED装置的多层磊晶结构,其包含一n型氮化镓(n-GaN)层、一活性层、及一p型氮化镓(p-GaN)层;以及
使该VLED装置的该n-GaN层的表面于水溶液中粗糙化。
2.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该n-GaN层通过湿式蚀刻工艺加以粗糙化。
3.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含氧化及蚀刻该LED。
4.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该氧化及蚀刻于具有水溶液的系统中实施。
5.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该水溶液可为氧化剂及酸性或碱性溶液的组合。
6.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该氧化剂包含H2O2、K2S2O8其中之一或其组合。
7.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该酸性溶液包含H2SO4、HF、HCl、H3PO4、HNO3及CH3COOH其中之一或更多。
8.如权利要求5所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该碱性溶液包含KOH、NaOH、及NH4OH其中之一或其组合。
9.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含以波长范围在可见光与紫外光光谱之间的Hg或Xe弧光灯系统来照亮该LED。
10.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,其中该n-GaN层以小于200mW/cm2的光强度曝光。
11.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含对该导电基板施以电偏压且将电压控制于-5V与+5V之间。
12.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含控制氧化支配、蚀刻支配、或两反应,以使该n-GaN层的该表面的粗糙度最佳化。
13.如权利要求1所述的半导体垂直发光二极管(VLED)装置的制造方法,还包含改变该水溶液的组成、电偏压、以及照光强度。
14.一种n侧在上(n-side up)LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该LED晶圆具有一金属基板,该方法包含:
在一承载基板上方沉积一n-GaN部分;
在该n-GaN部分上方沉积活性层;
在这些活性层上方沉积一p-GaN部分;
沉积一或更多金属层;
施加一遮罩层;
蚀刻该金属层、p-GaN层、活性层、及n-GaN层;
移除该遮罩层;
沉积一钝化层;
将位于该p-GaN层顶部上的该钝化层的部分移除,以曝露该金属层;
沉积一或更多金属层;
沉积一金属基板;
移除该承载基板以暴露该n-GaN表面;
将该n-GaN表面粗糙化。
15.如权利要求14所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该n侧在上LED晶圆的该n-GaN层于该粗糙化工艺之前实质上是光滑且平坦的。
16.如权利要求15所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该n侧在上LED晶圆的该n-GaN层于该n-GaN层经粗糙化之前具有小于5000的表面粗糙度。
17.如权利要求14所述的n侧在上LED晶圆的曝露n-GaN层的粗糙化方法,其中该承载基板是蓝宝石。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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