[发明专利]X射线摄影装置

权利要求书

1.一种X射线摄影装置，其具有产生X射线的机构、对所述X射线的照射范围进行限制的准直仪、和对所述被摄体的X射线透过像进行检测的X射线检测机构，其特征在于，包括：

多个参照信号检测机构，其配置在所述X射线检测机构的端部，在X射线入射方向的面上具有对所述被摄体的透过X射线及来自所述被摄体的散射X射线进行遮断的准直仪，检测外部产生的电磁波噪声作为外因性噪声；

参照信号存储机构，其对由所述参照信号检测机构检测出的所述外因性噪声作为参照信号进行存储；

帧存储机构，其在所述X射线检测机构通过限制所述X射线的照射范围的准直仪限制了来自所述X射线产生机构的X射线照射的状态下，对由所述X射线检测机构检测出的投影信号数据进行存储；和

计算机构，其根据所述被存储的投影信号数据和参照信号计算噪声除去信号。

2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于，

所述计算机构具有第一计算机构和第二计算机构，

所述第一计算机构通过限制所述X射线的照射范围的准直仪遮断了来自所述X射线产生机构的X射线照射的状态下，根据由所述X射线检测机构检测出的噪声信号和由所述参照信号存储机构存储的参照信号，计算用于噪声除去的最佳系数；

所述第二计算机构使用由所述第一计算机构计算出的最佳系数、所述参照信号及所述投影信号数据，计算噪声除去信号。

3.根据权利要求2所述的X射线摄像装置，其特征在于，

第一计算机构通过所述参照信号检测机构检测在X射线的非照射区域配置的N个参照信号，在利用所述准直仪大致遮断了对所述X射线检测机构的X射线照射的状态下，将由所述X射线检测机构检测出的噪声信号p(t)，用由所述参照信号检测机构检测出的N个参照信号q_n(t)的线性和p’(t)＝α₁q₁(t)+α₂q₂(t)+…+α_Nq_N(t)进行近似，计算使所述近似的平均2乘误差为最小的权重系数α_n，其中，1≤N，t为时间，n＝1～N。

4.根据权利要求2或3所述的X射线摄影装置，其特征在于，

所述第二计算机构使用由所述X射线检测机构及所述参照信号检测机构分别计测出的信号f(t)及参照信号q_n(t)和存储于所述存储机构的所述权重系数α_n的值，计算噪声除去信号f(t)-p’(t)。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的X射线摄影装置，其特征在于，

所述参照信号检测机构由构成所述X射线检测机构的多个检测元件的一部分构成。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的X射线摄影装置，其特征在于，

具有第一和第二准直仪，所述第一和第二准直仪分别配置在所述X射线产生机构与所述被摄体之间以及所述被摄体与所述参照信号检测机构之间，用于大致遮断X射线向所述参照信号检测机构的照射。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的X射线摄影装置，其特征在于，

所述参照信号检测机构由M个参照用检测元件构成，所述N个参照信号q_n(t)由预先指定的N个参照用检测元件的检测信号构成，其中，N＜M。

8.根据权利要求7所述的X射线摄影装置，其特征在于，

所述N个参照信号q_n(t)的一部分或全部，由通过多个所述参照用检测元件检测出的信号的加法运算值构成。

9.根据权利要求7或8所述的X射线摄影装置，其特征在于，

能够针对构成所述X射线检测机构的各检测元件，变化所述被指定的N个参照用检测元件的组合。

10.根据权利要求9所述的X射线摄影装置，其特征在于，

可针对构成所述X射线检测机构的各检测元件，指定距离最近的N个所述参照用检测元件的组合。