[发明专利]光盘、记录方法、记录介质和光盘装置无效

专利信息
申请号: 200680000557.9 申请日: 2006-05-25
公开(公告)号: CN101080777A 公开(公告)日: 2007-11-28
发明(设计)人: 加藤将纪;山田胜幸;伊藤和典;篠塚道明;日比野荣子;真贝胜;关口洋义 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G11B20/12 分类号: G11B20/12;G11B27/19;G11B27/24;G11B7/0045;G11B7/007;G11B7/125;G11B7/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 吕晓章;邵亚丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光盘 记录 方法 介质 装置
【权利要求书】:

1.一种使用激光在包含多个记录层的多层光盘上记录信息的方法,该多个记录层包括第一记录层和第二记录层,第二记录层为与第一记录层相邻的记录层,第一记录层包含用于校准写功率的第一测试写入区,第二记录层包含用于校准写功率的第二测试写入区,其中当考虑到激光被安置的照射的方向时,第一测试写入区的第一区与第二测试写入区的第二区相重叠,该方法包括:

如果第二测试写入区的第二区未被记录,则在第二测试写入区的第二区中记录数据,以将第二测试写入区的第二区转换成记录状态;

一旦第二测试写入区的第二区转换成记录状态,则在第一测试写入区的第一区中进行试写。

2.根据权利要求1的方法,其中在激光被安置的照射方向上,第二记录层是相对于第一记录层的下一记录层。

3.根据权利要求2的方法,其中该光盘包含第三记录层,在激光被安置的照射的相反方向上,该第三记录层为相对于第一记录层的下一记录层,该第三记录层包含用于校准写功率的第三测试写入区,其中当考虑激光被安置的照射方向时,第三测试写入区的第三区与第一测试写入区的第一区相重叠,该方法包括:

如果第三测试写入区的第三区未被记录,则在第三测试写入区的第三区中记录数据,以将第三测试写入区的第三区转换成记录状态;

一旦第三测试写入区的第三区转换成记录状态,则在第一测试写入区的第一区中进行所述试写。

4.根据权利要求1至3中的任一方法,其中当在第一测试写入区的第一区中进行试写之前,如果第一测试写入区的第一区未被记录,则该方法包括:在第一测试写入区的第一区中记录数据,以将第一测试写入区的第一区转换成记录状态;且之后清除第一测试写入区的第一区。

5.根据权利要求1至3中的任一方法,其中当在第一测试写入区的第一区中进行试写之前,该方法包括清除第一测试写入区的第一区。

6.根据权利要求4或5中的方法,其中清除第一测试写入区的第一区包括执行擦除操作以使第一区未被记录。

7.根据权利要求1至4的任一方法,其中对于第一测试写入区的第一区、或第二测试写入区的第二区、或第三测试写入区的第三区,在该区中记录数据以将该区转换成记录状态的相应步骤包括执行使该区为逻辑0的操作。

8.一种使用激光将信息记录到包含多个记录层的多层光盘上的装置,该多个记录层包括第一记录层和第二记录层,第二记录层为与第一记录层相邻的记录层,第一记录层包含用于校准写功率的第一测试写入区,第二记录层包含用于校准写功率的第二测试写入区,其中当考虑激光被安置的照射的方向时,第一测试写入区的第一区与第二测试写入区的第二区相重叠,其中:

如果第二测试写入区的第二区未被记录,则该装置被安置以在第二测试写入区的第二区中记录数据,以将第二测试写入区的第二区转换成记录状态;

一旦第二测试写入区的第二区转换成记录状态,则该装置被安置以在第一测试写入区的第一区中进行试写。

9.根据权利要求8的装置,其中在激光被安置的照射方向上,第二记录层是相对于第一记录层的下一记录层。

10.根据权利要求9的装置,其中该光盘包含第三记录层,在激光被安置的照射的相反方向上,该第三记录层为相对于第一记录层的下一记录层,该第三记录层包含用于校准写功率的第三测试写入区,其中当考虑激光被安置的照射方向时,第三测试写入区的第三区与第一测试写入区的第一区相重叠,其中:

如果第三测试写入区的第三区未被记录,则该装置被安置以在第三测试写入区的第三区中记录数据,以将第三测试写入区的第三区转换成记录状态;

一旦第三测试写入区的第三区转换成记录状态,则该装置被安置以在第一测试写入区的第一区中进行所述试写。

11.根据权利要求8至10的任一装置,其中当在第一测试写入区的第一区中进行试写之前,如果第一测试写入区的第一区未被记录,则该装置被安置为:在第一测试写入区的第一区中记录数据,以将第一测试写入区的第一区转换成记录状态;且之后清除第一测试写入区的第一区。

12.根据权利要求8至10中的任一装置,其中当在第一测试写入区的第一区中进行试写之前,该装置被安置清除第一测试写入区的第一区。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680000557.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top