[实用新型]二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置无效

专利信息
申请号: 200620200959.0 申请日: 2006-11-23
公开(公告)号: CN201016702Y 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 杨旭东;王生怀;李家春;谢铁邦 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: G01B7/28 分类号: G01B7/28
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 代理人: 郭防
地址: 550003贵州*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 二维 位移 传感器 应用 量程 表面 形貌 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种二维位移传感器,它包括固定支架(1),其特征是:在固定支架(1)上通过平行簧片(2)连接有可动支架(3),固定支架(1)和可动支架(3)之间安装有水平位移传感器(11),可动支架(3)上安装杠杆支点(4),杠杆支点(4)上安装杠杆(5),杠杆(5)的一端固定触针(6),杠杆(5)的另一端与可动支架(3)之间安装有垂直位移传感器(8)。

2.根据权利要求1所述的二维位移传感器,其特征是:垂直位移传感器(8)的构造包括磁芯(9)和电感线圈(10),磁芯(9)固定在杠杆(5)的右端,电感线圈(10)固定在可动支架(3)上,磁芯(9)置于电感线圈(10)内。

3.根据权利要求1所述的二维位移传感器,其特征是:水平位移传感器(11)的构造包括磁芯(12)和电感线圈(13),磁芯(12)固定在固定支架(1)上,电感线圈(13)固定在可动支架(3)上,磁芯(12)置于电感线圈(13)内。

4.根据权利要求1所述的二维位移传感器,其特征是:在可动支架(3)与杠杆(5)之间安装有弹簧(7)。

5.一种如权利要求1~4任一所述的应用二维位移传感器的大量程表面形貌测量装置,其特征是:二维位移传感器(14)安装在立柱(25)上,立柱(25)固定在底座(19)上,在底座(19)上设有可水平和垂直移动的垂直扫描工作台(23),垂直扫描工作台(23)上放置工件(24);二维位移传感器(14)、垂直扫描工作台(23)通过测控电路(16)连接计算机(15)。

6.根据权利要求5所述的应用二维位移传感器的大量程表面形貌测量装置,其特征是:垂直扫描工作台(23)的构造包括X-Y工作台(18)、斜面机构(20)、压电陶瓷驱动器(21)和工作台(17);带电机的斜面机构(20)安装在X-Y工作台(18)上,斜面机构(20)上方设有压电陶瓷驱动器(21),压电陶瓷驱动器(21)上方为工作台(17),在压电陶瓷驱动器(21)上设有衍射光栅位移传感器(22)。

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