[实用新型]一种射线源与探测器的对准机构无效
| 申请号: | 200620172883.5 | 申请日: | 2006-12-30 | 
| 公开(公告)号: | CN201016941Y | 公开(公告)日: | 2008-02-06 | 
| 发明(设计)人: | 刘以农;张丽;李元景;唐传祥;赵自然;吴万龙 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 | 
| 主分类号: | G01N23/083 | 分类号: | G01N23/083;H05G1/02 | 
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘长威 | 
| 地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 射线 探测器 对准 机构 | ||
技术领域
本实用新型涉及物品检测技术领域,特别是一种射线源与探测器的对准机构。
背景技术
X(γ)射线透射成像,是将被检测物放置在X(γ)射线源与探测器之间,通过测量被检测物对X(γ)射线在不同空间位置的衰减程度来了解被检测物内部的信息。该技术在无损检测、医疗等领域已广泛使用。为了保证上述检测过程的良好进行,一般要求X(γ)射线源与探测器之间要相互对准。当X(γ)射线源与探测器相互静止时,对准问题很好解决;但是,当X(γ)射线源与探测器相互运动时,对准问题就会变得比较复杂。例如,X(γ)射线CT技术是基于X(γ)射线透射成像的,其运行中某个过程可以是如下描述的:
在初始位置采集一个X(γ)射线透射数据(也称投影),平移一段距离后再采集下一个X(γ)射线透射数据,直至各个探测器与X(γ)射线源点的连线覆盖被检测物的全部。当平移到被检测物的边缘时,必然导致只有少数探测器与X(γ)射线源点的连线通过被检测物体,而其他(占多数)探测器实际没有有用信息(见附图1)。这些无用信息的采集,导致了采集时间长、运动距离远、设备尺寸大。上述缺点是由于X(γ)射线源与探测器相互静止所造成。如果在移动X(γ)射线源时,保持探测器不动,在不损失数据的前提下可减小设备尺寸(见附图2)。简单地用移动X(γ)射线源并保持探测器静止,不能消除上述缺点,因为通常为降低X(γ)射线散射对成像的影响,在探测器入口处加装了准直器,而且准直器是要对准X(γ)射线源方向的,因此,简单移动X(γ)射线源会导致装有准直器的探测器接收不到信号。当探测器对来自不同方向的射线响应不同时,仅移动X(γ)射线源会造成数据损失。本实用新型通过探测器相对X(γ)射线源点的运动,在保证X(γ)射线源与探测器相互对准的情况下,减少了无用信息的采集,使得采集时间短、运动距离近、设备尺寸小。
设备尺寸的减小,在大型物体检测时会有很大好处,例如,减少了占地面积,降低了设备造价等。
发明内容
为克服现有技术中,射线源与探测器相互运动时,射线源与探测器难于对准的缺点。本实用新型的目的提供一种射线源与探测器的对准机构。
本实用新型通过探测器相对x(γ)射线源点的运动,在保证x(γ)射线源与探测器相互对准的情况下,减少了无用信息的采集,使得采集时间短、运动距离近、设备尺寸小。
一般首先会想到使整个探测器部件围绕X(γ)射线源旋转的方法解决对准问题,但是,在实现大型货物检测过程中,一般不允许建造一个大直径的旋转机构,这使得旋转对准办法不易实现。
机械上最容易实现的运动是旋转和直线运动,所以,在大直径旋转难于实现的时候,本专利考虑用直线运动来实现对准。
参考附图3,X(γ)射线源与探测器在平行线上相对运动,当源的位置由S移到S’时,依据相似三角形原理得到:
上述比例关系不受运动的起始位置的影响,就是说:当H、H2一定时,L3上任意位置的探测器要保持对准在L2上移动了距离X的X(γ)射线源,都仅需要使X(γ)射线源-探测器连线保持在L4上相同的截距X2。
同样,当H、H1一定时,在L2上移动了距离X的X(γ)射线源要对准L3上原来已对准的那个探测器,仅需要使X(γ)射线源-探测器连线保持在L1上的截距为X1。
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