[实用新型]线材用的测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试治具，更详言之，涉及一种线材用的测试治具。

背景技术

低电压差动信号传输(Low Voltage Differential Signaling，简称LVDS)是一种以ANSI/TIA/EIA-644LVDS接口标准为基础的新技术，可满足现今对高性能数据传输应用的需求。同时，这项技术可以使系统供电电压减低到2伏特，足以满足未来应用上的需求。

低电压差动信号传输技术的特色便是平均330mV(250Mv至450mV之间)的低电压差动信号与快速的转换时间，而使得产品能够达到从100Mbps到1Gbps以上的高数据传输速度。此外，低电压摆幅也可以将消散的电力减至最少，同时提供差动传输的优点。

低电压差动信号传输技术是应用在简单的线性驱动器与接收器实体层级器件中，以及更复杂的接口通讯芯片组中。通道连结芯片组多路传输与解多路传输会降低TTL信号线的速度，以提供一个精细、高速、低耗电的LVDS接口。这些芯片组可显著降低系统的连接线与连接插头的成本，也可以减少连接插头占用的实体空间。

目前针对低电压差动信号传输的测试，多为将低电压差动信号传输的线材装置在一承载板上，该承载板具有多个沟槽以容纳差动信号传输的线材，以使多个并列的线材构成为一公插接头，再利用一母插接头将信号转接而出以进行测试。

但是，具有低电压差动信号传输的线材的公插接头板厚度甚薄，不便于插拔，在频繁插拔下，经常会造成损坏。

再者，低电压差动信号传输的线材在公插接头板上甚为脆弱，在插拔过程中，经常造成线材的毁损。

因此，如何改善以上种种缺点，为当今亟待思考的课题。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的一个目的在于提供一种电性转接测试治具，从而确保受测物的线材不致受损。

为达上述目的，本实用新型提供一种线材用的测试治具，用于将待测线材连接至测试机具，且该待测线材所具的电性接头设有第一卡合部，该测试治具包括：治具本体，其侧向具有一作用表面，该作用表面在接近该治具本体的底端处设有对应该第一卡合部的用于固定该电性接头的第二卡合部；以及转接块体，电性连接于该测试机具且滑动结合在该治具本体的作用表面，该转接块体的一端具有对应该电性接头的转接部，通过使该转接块体往该电性接头方向滑动而令该转接部电性连接在该电性接头，该待测线材由此电性连接在该测试机具。

该待测线材可为低电压差动信号传输(LVDS)的线材，或其他可传导信号的线材。

相比于现有技术中低电压差动信号传输线材由于所设的承载板过薄以及线材本身极细而容易在测试所需的插拔过程中产生线材受损的情形，本实用新型线材用的测试治具，先将待测线材的电性接头固定在该治具本体，再通过操作电性连接在该测试机具的转接块体滑动而电性导接在该电性接头，即可使该待测线材电性连接在该测试机具，并可避免现有技术的缺点。

由上可知，本实用新型线材用的测试治具可改善现有技术的缺点，因此具有高度产业利用价值。

附图说明

图1是显示本实用新型线材用的测试治具的一个较佳具体实施例的立体示意图；以及

图2是显示本实用新型线材用的测试治具的一个较佳具体实施例的另一立体示意图。

主要元件符号说明

1测试治具      10治具本体

101固定载板    102移动载板

103导引杆        11作用表面

12第二卡合部     13转接块体

130转接部        131结合片

132第一结合部    133操作部

14第二结合部     15测试端连接部

2待测线材        20电性接头

201电性接孔      21第一卡合部

具体实施方式

以下通过特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，以下请配合图式说明本实用新型的具体实施例，以使所属技术中具有通常知识者可轻易地了解本实用新型的技术特征与达成功效。