[实用新型]基于ATCA架构的JTAG测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及通信领域，尤其涉及一种基于ATCA架构的JTAG测试装置及用于该测试装置的JTAG测试板。

背景技术

IEEE 1149.1边界扫描测试标准，通常又称为JTAG(Joint Test ActionGroup)标准，该标准详细描述并规定了测试访问口和边界扫描体的体系结构，是一种国际标准测试协议。

现在多数高级器件都支持JTAG协议，如数字信号处理(DSP，Digital SignalProcessing)、现场可编程门阵列(FPGA，Field Programmable Gate Array)器件等。标准的JTAG接口是四线，分别定义为测试模式选择(TMS，Test ModeSelect)、测试时钟(TCK，Test Clock)、测试数据输入(TDI，Test Data Input)和测试数据输出(TDO，Test Data Output)线。在五线接口中，有一条为测试复位信号(TRST，Test Reset)线，是可选的。

JTAG最基本的功能是用来对芯片进行测试，基本原理是在器件内部定义一个测试访问口(TAP，Test Access Port)，通过专用的JTAG测试工具对芯片的内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，实现对各个器件分别测试。目前，JTAG接口还常用于实现在线编程(ISP，In-System Programmable)，对FLASH等器件进行编程。JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程是先对芯片进行预编程，然后再装到板上；采用JTAG方式后，流程大为简化，直接通过JTAG方式对器件进行JTAG在线编程，从而大大加快生产及工程进度。

在现有各高级电信计算体系结构(ATCA，Advanced TelecommunicationsComputing Architecture)单板中，实现JTAG测试的方式全部采用在ATCA前插板贴装面上放置一个JTAG插座，将JTAG测试仪连接到该JTAG插座上，如图1所示。板上的JTAG接口器件汇聚连接成为一个菊花链，JTAG测试仪通过此接口对JTAG菊花链中的每一个器件或指定的器件进行边界扫描测试。

然而，上述现有技术还存在以下不足：

首先，不适于进行批量测试。这是由于JTAG测试仪与单板是一一对应的，因此只能一块一块地测试，因此不支持批量测试。

其次，不支持在系统进行测试。由于在系统测试是在单板运行时，可以在不插拔单板的情况下进行测试。而现有技术连接JTAG测试仪时需对ATCA前插板断电，连接正确后再加电，并且无法支持满框测试。

此外，每个单板JTAG插座位置及方向不统一，摆放差异较大，连接方式复杂，对JTAG测试仪的连接线长度提出了不同的要求，并且该插拔方式易造成接插件损坏或电气故障。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于提供一种基于ATCA架构的JTAG测试装置及用于该测试装置的JTAG测试板，能够实现批量测试，提高测试效率。

实现本实用新型目的的技术方案如下：

一种基于ATCA架构的JTAG测试装置，包括JTAG测试仪，其中，还包括：JTAG测试板；所述JTAG测试板包括PCB基板、以及在该PCB基板上设置的插座和能够与待测ATCA前插板相连接的插接件；所述JTAG测试仪通过该插座与该JTAG测试板相连接。

优选的，所述插接件包括若干组JTAG测试端子，该端子的组数能够根据待测ATCA前插板中JTAG菊花链的个数自由定义。

优选的，所述插接件能够与该待测ATCA前插板的插接件直接对插。

优选的，所述插接件与插座分别设置在该JTAG测试板的不同端边。

优选的，所述插接件与插座分别设置在该JTAG测试板的相对两端。

一种基于ATCA架构的JTAG测试装置用的JTAG测试板，其中，包括PCB基板、以及在该PCB基板上设置的能够与JTAG测试仪相连接的插座和能够与待测ATCA前插板相连接的插接件。

优选的，所述插接件包括若干组JTAG测试端子，该端子的组数能够根据待测ATCA前插板中JTAG菊花链的个数自由定义。

优选的，所述插接件能够与该待测ATCA前插板的插接件直接对插。

优选的，所述插接件与插座分别设置在该JTAG测试板的不同端边。

优选的，所述插接件与插座分别设置在该JTAG测试板的相对两端。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：