[实用新型]静电梳状驱动MEMS双轴拉伸疲劳特性实验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种静电梳状驱动MEMS双轴拉伸疲劳特性实验装置，用于双轴拉伸应力环境下MEMS(Micro-Electro-Mechanical System，微机电系统)多晶硅结构疲劳特性的研究，属于微纳米尺度材料特性基础研究领域。

背景技术

在过去的几十年里，单晶硅和多晶硅薄膜被广泛的应用于MEMS(微机械系统)。然而在很多的装置中，例如汽车安全气囊中的加速度传感器，在循环载荷的作用下，疲劳破坏经常发生。目前人们对宏观状态下属于脆性材料的硅在微纳米尺度下疲劳的基本原理还不太清楚。

此外，MEMS的基本构件并不是传统机械的简单几何缩小，当构件细微到微米/纳米尺度后，材料本身的力学性质会发生显著的变化，从而出现强烈的尺寸效应。常规条件下材料的力学性能参数已远不能满足MEMS的设计要求。

目前存在的一些疲劳特性检测装置仅仅能够模拟MEMS结构单轴拉伸和单轴弯曲的工作环境，但是事实上有很多MEMS结构在工作状态下都是出于复杂的双轴拉伸应力环境下的。

因此为了满足MEMS系统结构设计的要求，必须引入新的小型化的精密测量装置来研究其双轴拉伸疲劳失效特性。

实用新型内容

本实用新型中提供了一种静电梳状驱动MEMS双轴拉伸疲劳特性研究装置，来模拟MEMS微结构的实际工作环境和应力状态，进而研究MEMS结构材料多晶硅的双轴拉伸疲劳特性。

本实用新型采取了如下技术方案。本装置主要包括有接地电极1、驱动电极2、第一固定梳齿4、第二固定梳齿10、第一悬置梳齿5、第二悬置梳齿9。其中，驱动电极2通过两个互相垂直的第一固定梁13、第二固定梁12连接到第一固定梳齿4和第二固定梳齿10。接地电极1通过两个互相垂直的第一悬臂梁6、第二悬臂梁8连接到第一悬置梳齿5、第二悬置梳齿9，第一固定梳齿4和第一悬置梳齿5、第二固定梳齿10和第二悬置梳齿9构成两组梳齿静电驱动器，在第一悬臂梁6、第二悬臂梁8的交叉部分为疲劳实验试样7。接地电极1接地，驱动电极2接交流电。在疲劳实验试样7的正中开有正方形的缺口。

在本实用新型中，通过设置一对相互垂直的悬臂梁来实现试样的双轴拉伸应力环境。实验时，对接地电极1接地，对驱动电极2施加正旋波电信号，这样在梳齿对9和10、5和4之间将产生交变静电力，当该静电力的频率与结构的平面固有频率相当时，悬置部分将发生共振。从而带动悬臂梁8和6产生周期性的拉伸载荷，使试样7处于典型的双轴拉伸应力状态下。梳齿9和5的振动幅度可由显微镜进行观测，根据该振动幅度算出试样缺口部分所受的应力水平来研究微尺寸试件的双轴疲劳特性。

整个装置的结构和各构件的尺寸均符合现有表面微机械加工的工艺要求。

本实用新型的有益效果为：1)静电梳状驱动MEMS双轴拉伸疲劳特性研究装置的构件与典型MEMS构件在尺寸上相一致；此外由于采用了交叉悬臂梁设置使得试样(悬臂梁的公共部分)处于典型的双轴拉伸应力状态下，克服了传统MEMS实验装置仅能够模拟试样的单轴拉伸和弯曲应力状态的不足；这样对于MEMS疲劳特性的研究非常有利；2)该装置使用表面微机械工艺加工，试样与悬臂梁和电极等是一个整体，完全避免了传统疲劳试验的夹持和对中操作；3)为了提高试样所受的应力水平，缩短实验时间，在试样中心开了正方型的缺口，同时在实验过程中应用了该装置的共振特性；4)该装置具有加工简单，操作方便，容易获取真实实验数据，真实模拟MEMS构件的双轴受力环境等特点，因此对处于微尺度的MEMS构件的双轴拉伸疲劳特性的研究具有很高的价值。

附图说明

图1静电梳状驱动MEMS双轴拉伸疲劳特性实验装置正面全局图

图2该装置的立体结构图

图3该装置的实验装配图 

图中：1、接地电极，2、驱动电极，3、第一横梁，4、第一固定梳齿，5、第一悬置梳齿，6、第一悬臂梁，7、疲劳实验试样，8、第二悬臂梁，9、第二悬置梳齿，10、第二固定梳齿，11、第二横梁，12、第二固定梁，13、第一固定梁，21、接地电极的固定层，22、接地电极的结构层、23接地电极的金属层，24、第二固定梁的结构层，25、驱动电极及第一和第二固定梁的固定层，26、驱动电极的金属层，27、驱动电极的结构层，28、第一固定梁的结构层。

具体实施方式

下面结合附图1～4对本实用新型的具体实施例加以说明。