[实用新型]物体位置自动检测装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及物体位置自动检测装置，具体是对物体的位置移动自动进行检测的装置。

【背景技术】

在工业生产及科学研究中经常需要对某些物体的位置进行实时检测。目前都是采用人眼对物体的位置进行观察，其观察存在较大的误差，往往对工业生产和科学研究造成诸多不良的影响。

所以，如何开发出一种能够自动对物体位置进行准确检测的装置已成为当务之急。

【发明内容】

本实用新型的目的就是解决现有技术中的问题，提出一种物体位置自动检测装置，能够自动对物体位置进行准确检测。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种物体位置自动检测装置，包括挡光板、第一发光二极管、第二发光二极管、第一三极管和第二三极管，所述第一发光二极管与第二发光二极管串联连接，第一发光二极管的正极接电源，第二发光二极管的负极接地，第一三极管和第二三极管的集电极接电源，第一三极管和第二三极管在挡光板的一侧，第一发光二极管和第二发光二极管在挡光板的另一侧，第一发光二极管的基极与第一发光二极管的位置相对应，第二三极管的基极与第二发光二极管的位置相对应，挡光板上包括挡光部分和透光部分。

作为优选，还包括电阻，所述电阻与第二发光二极管串联。

本实用新型的有益效果：本实用新型将挡光板固定在待检测物体上，在挡光板的一侧设置两个发光二极管，另一侧设置两个三极管，两发光二极管的位置分别与两三极管的基极对应，中间设置挡光板，当挡光板的挡光部分移动到发光二极管的对应位置时，发光二极管发出的光就不能被三极管接受，三极管的发射极就输出低电平；当挡光板的透光部分移动到发光二极管的对应位置时，发光二极管发出的光就可以被三极管接受，三极管的发射极就输出高电平。通过对两个三极管发射极输出的高低电平对物体的位置进行检测，能够自动对物体位置进行准确检测。

本实用新型的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。

【附图说明】

图1是本实用新型物体位置自动检测装置的结构示意图；

图2是本实用新型物体位置自动检测装置中挡光板的结构示意图。

【具体实施方式】

图1是本实用新型物体位置自动检测装置的结构示意图。包括挡光板1、第一发光二极管D1、第二发光二极管D2、第一三极管Q1和第二三极管Q2，所述第一发光二极管D1与第二发光二极管D2串联连接，第一发光二极管D1的正极接电源，第二发光二极管D2的负极接地，第一三极管Q1和第二三极管Q2的集电极接电源，第一三极管Q1和第二三极管Q2在挡光板1的一侧，第一发光二极管D1和第二发光二极管D2在挡光板1的另一侧，第一发光二极管D1的基极与第一发光二极管D1的位置相对应，第二三极管Q2的基极与第二发光二极管D2的位置相对应。图2是本实用新型物体位置自动检测装置中挡光板的结构示意图挡光板1上包括挡光部分11和透光部分12。本实施例采用了两块长条形的透光部分12。作为优选，还包括电阻R，所述电阻R与第二发光二极管D2串联。

本实施例将挡光板1固定在待检测物体上，当待检测物体移动时，挡光板1会一起移动，当挡光板1上与第一发光二极管D1对应位置为挡光部分11时，第一发光二极管D1发出的光就不能被第一三极管Q1的基极所接受，第一三极管Q1就截止，第一三极管Q1的发射极S1就输出低电平；当挡光板1上与第一发光二极管D1对应位置为透光部分12时，第一发光二极管D1发出的光就被第一三极管Q1的基极所接受，第一三极管Q1就导通，第一三极管Q1的发射极S1就输出低电平。第二三极管Q2的截止与导通原理与第一三极管Q1相似。通过对S1和S2的输出电平的检测，就可以分别得到待测物体的前端和后端的位置，对物体进行很好的定位。通过合理设置挡光板1上挡光部分11与透光部分12的分布，可以对物体位置的检测精度进行更好地控制。

根据对精度的需要，也可以设置三组、四组或更多组发光二极管和三极管，从多个位置对物体进行检测，以得到更精确的物体位置的信息。

本实用新型能够自动对物体位置进行准确检测。

上述实施例是对本实用新型的说明，不是对本实用新型的限定，任何对本实用新型简单变换后的电路均属于本实用新型的保护范围。