[实用新型]一种有机电致发光器件亮度的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电致发光器件的测试技术，特别是涉及一种对底发射的矩阵显示有机发光显示器件的单个像素的亮度进行测量的技术。

背景技术

目前，几乎所有的有机电致发光器件都是以玻璃为衬底的。其机构是玻璃上有一层导电的电级(底电极)，在此电极上依次沉积多层有机薄膜作为发光材料，再沉积另外一层电极(顶电极)。对于大部分的有机电致发光器件来说，底电极一般都是透明的，而顶电极则是不透明的金属电极。这种结构的有机电致发光器件发出的光是从玻璃底部发出的，因此这种器件称为底发射结构的有机电致发光器件。对于具有图像功能的矩阵显示有机电致发光器件来说，其顶电极和底电极的引出电极都很细小(宽度为几十微米量级)，除了绑定上驱动芯片外，很难单独测量每一个小的像素点的电压-电流-亮度，除非使用探针台，利用探针台配备的很细小的探针来接触待测试的像素的阳极和阴极，在探针之间加上电压就可以测试了。但是现有的几乎所有的探针台的探针都是从上方接触待测量的样品的。对于底发射结构的有机电致发光器件来说，利用现有的探针台测量因为器件发出的光被探针台的托物平台遮挡而无法测量。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能测量矩阵显示的底发射结构的有机电致发光器件像素亮度的有机电致发光器件亮度的测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型所提供的一种有机电致发光器件亮度的测试装置，其特征在于，包括：

一探测台的测量平台，测量平台水平摆放，底发射结构的有机电致发光器件固设在测量平台上，测量平台的中间设有一个大于有机电致发光器件的底发光区域的通孔；

一块平面反射镜，设于测量平台的正下方，并与水平面成45度夹角；

一亮度测量仪器，水平放置并正对平面反射镜(即在平面反射镜上，亮度测量仪器测量轴线的正投影与有机电致发光器件底发光区域中心垂线的正投影在同一直线上)，使得从平面反射镜反射的待测器件的像素发出的光线都能垂直进入亮度测量仪器；

探针台上的两根探针分别接触有机电致发光器件待测量的像素的底电极和顶电极。

在连接待测试像素的阳极和阴极之间施加合适的电压使像素发光时，其发出的光经过平面反射镜的反射而进入亮度测量仪器，从而可以进行实现矩阵显示底发射结构的有机电致发光器件像素点亮度的测量；结合测量电压-电流测试系统就能进行电压-电流-亮度的测量。

进一步地，所述测量平台通孔的形状为矩形。

进一步地，所述亮度测量仪器的测量(亮度)值应乘以修正因子才能得到真实的测量值，所述修正因子是为避免由于平面反射镜对待测的有机电致发光器件发出的光的吸收而产生的测量误差而设置的。

利用本实用新型提供的有机电致发光器件亮度的测试装置，由于采用设有通孔的测量平台和45度夹角的平面反射镜探针台的测量结构，就能测量矩阵显示底发射结构的有机电致发光器件像素点的亮度。

附图说明

图1是现有技术中底发射结构的有机电致发光器件结构示意图。

图2是测量矩阵显示底发射结构的有机电致发光器件像素点亮度装置的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图说明对本实用新型的实施例作进一步详细描述，但本实施例并不用于限制本实用新型，凡是采用本实用新型的相似结构及其相似变化，均应列入本实用新型的保护范围。

在图1中，现有技术中的底发射结构的有机电致发光器件由顶电极1、有机层2和玻璃基板4上面的底电极3组成；在底电极3和顶电极1之间施加一个合适的电压，就有可见光从器件的玻璃基板一侧发出。

如图2所示，本实用新型实施例所提供的一种有机电致发光器件亮度的测试装置中，包括一探测台的测量平台7，底发射结构的有机电致发光器件6放置并固定在探测台的测量平台7上，探针台水平摆放，保证待测得有机电致发光器件在水平面内；与探测台的普通测量平台不同的是，这个测量平台不是完整的平台，而是在平台的中间设有一个通孔。由于一般的有机电致发光器件的形状及其发光区域都是矩形，因此通孔的形状也选择为矩形。通孔的面积介于待测量的底发射结构的有机电致发光器件的总面积和发光区域面积之间，这样可以保证待测器件上的任何一个像素都可以被测量而器件本身不会掉下来。调节探针台上的探针，使得两根探针5和10分别接触在有机电致发光器件待测量的像素的底电极和顶电极。在测量平台的正下方放置一块平面反射镜8，其与水平面的夹角为45度，其大小可以使得从底发射结构的有机电致发光器件6上待测的像素发出的光都可以沿垂直方向向下入射在平面反射镜8上并经过平面反射镜8的反射后从水平方向出射。在出射光所在的水平面内放置亮度测量仪器9，使得从平面反射镜8出射的待测器件的像素发出的光线都可以垂直进入亮度测量仪器9。这样的系统就可以很便利得测量底发射结构的有机电致发光器件的单个像素的亮度及其它参数。由于平面反射镜8对待测的有机电致发光器件发出的光有一定的吸收，会对测量结构产生一定的误差。因此适用本系统测量底发射结构的有机电致发光器件单个像素的亮度之前要对系统进行校正。校正时，先用亮度测量仪器9测量得到一个色块而非矩阵显示的有机电致发光显示器件的亮度B1，然后在不改变施加在有机电致发光显示器件的电压的情况下利用本实用新型测量得到同一个器件的亮度B2。B1除以B2的值B1/B2就是修正因子，利用本实用新型测量得到的底发射结构的有机电致发光器件的像素的亮度要乘以这个修正因子才是真实的测量值。