[实用新型]分体式管理测控仪表无效

专利信息
申请号: 200620046713.2 申请日: 2006-10-11
公开(公告)号: CN200989908Y 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 叶桂军;周青 申请(专利权)人: 上海广电电气(集团)有限公司
主分类号: G01R1/00 分类号: G01R1/00;G08C23/04;G08C19/00
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人: 陈逸良
地址: 201400上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 体式 管理 测控 仪表
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种电量测控仪表,特别地涉及一种分体式管理测控仪表。

背景技术

国内、国际上的多功能电量测控仪表都是测量模块和显示模块一体式的结构,这种结构的电量测控仪表安装在智能开关柜中,只能安装在前柜门上,导致开关内的走线要大量引到前柜门上,即加大了开关柜内布线的难度,又降低了开关柜的可靠性和安全性。

实用新型内容

本实用新型为了解决一体式结构的测控仪表带来的问题,提供一种测量模块和显示模块分体式的分体式管理测控仪表,以简化智能开关柜中的引线,并提高开关柜的可靠性和安全性。

本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:

一种分体式管理测控仪表,包括测量模块和显示模块,其特征在于:所述测量模块和显示模块为分体式结构,:所述测量模块和显示模块均带有CPU,测量模块与显示模块之间通过复数条通讯线(SPI)连接;所述测量模块安装在开关柜任何位置,所述显示模块安装在前柜门上。

本实用新型中,为了使输入端与输出端完全实现了电气隔离,输出信号对输入端无影响,增强抗干扰能力,在测量模块和显示模块通讯线上设置光耦,以单向传输电信号。

本实用新型的分体式管理测控仪表,将测量模块与显示模块分开,这样测量模块可以安装在开关柜内任何地方,布线到前柜门只需几根通讯线,工作方式非常便于开关柜内布线设计,测量与显示分开也提高了测量和显示系统的可靠性。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本实用新型。

图1为本实用新型分体式测控仪表的电路连接示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。

一种分体式管理测控仪表,包括测量模块MEM50DCPU和显示模块MEM50DCPU,两者为分体式结构,测量模块MEM50DCPU和显示模块MEM50DCPU均带有CPU,测量模块MEM50DCPU安装在开关柜任何位置,显示模块MEM50DCPU安装在前柜门上。

如图1所示,本实施例中,测量模块MEM50DCPU上设有4个接口,分别是PIN1、PIN2、PIN3、PIN4,显示模块MEM50DCPU上设有4个对应的接口,分别是CLK、MOSI、CS、MISO。

测量模块MEM50DCPU的接口PIN1传输的是SPI接口时钟信号,接口PIN1连接光耦01三极管集电极和测量模块MEM50DCPU的Vcc,接口PIN1与Vcc之间串连电阻R1调节驱动电压,光耦01三极管发射极连接测量模块MEM50DCPU接地端;光耦02发光二极管P极连接显示模块MEM50DCPU的VDD,N极连接数据线SPI-COMM-CLK,N极与数据线SPI-COMM-CLK之间串连电阻R2调节驱动电压;数据线SPI-COMM-CLK另一端连接三极管Q1集电极,发射极连接显示模块MEM50DCPU接地端,基极连接显示模块MEM50DCPU的CLK接口,基极与接口CLK之间串连电阻R3。

测量模块MEM50DCPU的接口PIN2传输的是SPI接口主发从收信号,接口PIN2连接光耦02三极管集电极和测量模块MEM50DCPU的Vcc,接口PIN2与Vcc之间串连电阻R4调节驱动电压,光耦02三极管发射极连接测量模块MEM50DCPU接地端;光耦02发光二极管P极连接显示模块MEM50DCPU的VDD,N极连接数据线SPI-COMM-MOSI,N极与数据线SPI-COMM-MOSI之间串连电阻R5调节驱动电压;数据线SPI-COMM-MOSI另一端连接三极管Q2集电极,发射极连接显示模块MEM50DCPU接地端,基极连接显示模块MEM50DCPU的MOSI接口,基极与接口MOSI之间串连电阻R6。

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