[实用新型]晶面取向加工X射线定位仪

权利要求书

1.一种晶面取向加工X射线定位仪，其结构包括X射线测量光路，其特征在于：其结构还包括方向调节夹具(2)、磁体基准(4)和磁体基准的平移、旋转调节机构，方向调节夹具位于X射线测量光路和磁体基准之间，并锁定在磁体基准上，磁体基准安装在磁体基准的平移、旋转调节机构上。

2.根据权利要求1所述的晶面取向加工X射线定位仪，其特征在于所述的方向调节夹具包括晶体固定架(27)、两种方向调节螺钉(23)和(29)和支架基准(26)，方向调节螺钉(23)和(29)分别和支架基准(26)通过螺纹配合，方向调节螺钉的顶端顶在晶体固定架上，被加工晶体通过粘接或采用螺钉固定在晶体固定架上。

3.根据权利要求1所述的晶面取向加工X射线定位仪，其特征是所述的X射线测量光路包括X射线管(1)、单色器(17)、中心顶针(8)、计数器(3)和放大器(18)，其中，中心顶针(8)的顶端位于X射线入射光和X射线反射光的交叉点上。

4.根据权利要求1所述的晶面取向加工X射线定位仪，其特征是所述的磁体基准的平移、旋转调节机构中的磁体基准的平移调节机构包括底板(6)、平台(5)、丝杆(15)、导轨(13)和手柄(14)，手柄(14)固定在丝杆(15)上，平台(5)与底板(6)通过精密导轨(13)连接，丝杆与平台通过螺纹配合，底板与手柄(14)通过轴承连接。

5.根据权利要求1所述的晶面取向加工X射线定位仪，其特征是所述的磁体基准的平移、旋转调节机构中的安装在平台(5)上的磁体基准的旋转调节机构包括旋转轴(16)、磁体基准(4)、基准调节板(19)、锁定螺钉(20)、调节螺钉(21)和千分表(22)，磁体基准安装在基准调节板上，基准调节板(19)与平台之间通过旋转轴(16)连接，调节螺钉(21)与平台之间通过螺纹配合，调节螺钉(21)的顶端顶在基准调节板(19)上，千分表(22)的顶端顶在基准调节板(19)上，磁体基准的旋转角度由千分表(22)显示。

6.根据权利要求1所述的晶面取向加工X射线定位仪，其特征是所述的磁体基准的平移、旋转调节机构中的固定在底板(6)下的旋转调节机构包括手柄(12)、角度数显器(11)、旋转轴(7)、蜗轮，底板(6)安装在旋转轴(7)上，手柄(12)与旋转轴(7)之间通过精密蜗轮连接，磁体基准的转动角度由角度数显器(11)显示。