[实用新型]电探针装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测用探针领域，尤其涉及一种利用导电胶与被量测物焊接点接触量测的检测用电探针装置。

背景技术

以往用于IC电子组件检测(诸如LCD与模块产品、印刷电路板的导电图案或电子装置的电路导通与否的检测等)的电探针装置，如中国台湾第90115337号专利《接触探针及电探针装置》图7所示，该接触探针具有成对金属柱塞连结至螺旋弹簧的两端部的柱塞组件，该柱塞组件系设计成可安装在绝缘固定座的支撑孔中，使得成对的柱塞系可以往复移动，且可部分地朝外突伸而出而不至滑脱，使用时则透过成对柱塞三角尖锥进行量测作业。

上述电探针装置一般皆采用具导电性的金属柱塞，因此该金属柱塞为了细小电路接点的量测特别设计成三角尖锥形，这样虽然可以克服细微接点的量测效果，却也衍生出诸多消费者抱怨的缺点，其中包括：

组装复杂：由于以往的电探针装置系由管径相当细微的管件供更细微的金属柱塞穿入后，再额外穿套一个供柱塞弹性抵顶的螺旋弹簧，不仅穿套构件复杂增加组装难度，加上柱塞及螺旋弹簧相当细微，更是导致电探针装置组装效率迟迟无法提高的主要原因。

成本过高：金属柱塞套入外套管状态下，又欲保持柱塞沿外套管顺畅伸缩，加工裕度的精确掌控则是重要目标，为求自然需借由成本较高的精密加工才能完成，单是成本环节方面即不符合经济效益。

量测不精确：承上，有业界为求电探针装置的成本降低，而寻求加工成本较低廉的一般加工程序，成本上固然有效降低，但相对于外套管与柱塞的加工裕度不是过大造成柱塞无法顺利内缩压抵导通点，就是加工裕度低于标准造成柱塞与外套管间之间隙过大(无法保持柱塞呈正中央状态)，而容易与螺旋弹簧产生偏向抵顶的非导通现象，进而无法于每次量测时皆具量测功效，且柱塞采用金属材料设计，亦会因金属阻抗系数较大而影响量测的速度及精确度，甚至金属柱塞为防金外观亮丽，及锈蚀而施以表面电镀加工，更是导致以往电探针装置的导电性关键。

破坏被量测物：诚如上述，以往的柱塞为硬质金属制成，加上量测端为三角尖锥状设计，以致在使用者施力过当的情况下更容易穿破被量测物，以往电探针装置的金属柱塞设计，对于现阶段以超轻薄为主的PCB板，更容易于柱塞量测过程造成PCB板的结构损坏，以致影响日后的电路焊锡零件蚀刻作业，整体而言，目前坊间采用的金属柱塞形态的电探针装置，确实有加以改良的必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于为克服已知电探针装置利用金属柱塞所衍生的被量测物结构破坏、导电性不良、不精准及组装过于复杂、耗时等诸多缺点，提供一种新颖的电探针装置。

为实现上述目的，本实用新型一种电探针装置，其中该电探针装置的探针套管至少一端以可伸缩方式设有一局部突露的导电胶柱塞。

所述中空探针套管一端可供具挡缘的柱塞穿设，另一端套卡一和柱塞接触的止胶插销，该止胶插销自由端则焊固一连接量测装置的导电线。所述探针套管外部有一具挡止用的挡部，内部形成有内凸部，该内凸部与止胶插销外凹部套卡定位。

所述探针套管外端形成局部突露的柱塞，该柱塞由导电胶材制成。所述探针套管两端的柱塞是单一导电胶套卡而外露的两端。

所述柱塞外露端设有与接触工作物适合头形的接触部。

藉全导通的电导胶柱塞设计，即可有效克服以往金属柱塞电探针装置存在的技术课题，形成一可防止被量测物结构破坏及简化组装的新颖电探针装置。

附图说明

图1是本实用新型电探针装置与量测装置结合外观示意图。

图2是本实用新型电探针装置结构立体分解图。

图3是本实用新型电探针装置立体外观图。

图4是本实用新型电探针装置剖面示意图。

主要组件符号说明

1：电探针装置，2：导电线，3：量测装置，10：探针套管，

11：挡止环，12：挡部，13：内凸部，20：柱塞，21：挡缘，

22：接触部，30：止胶插销，31：外凹部。

具体实施方式

参照图1所示，一种电子组装的各项组件量测用的电探针装置，本实用新型电探针装置1系藉由一导电线2与量测装置3电连接，使用者透过量测装置3获知量测的数据，而量测装置乃属常规结构且非本案的改良重量，谅此不予赘述。

参照图2至图4所示，本创作的电探针装置1包括：

一探针套管10，该绝线材制成的中空探针套管10一端面朝内形成一挡止环11，外部则形成有挡止作用的挡部12，内部则由外朝内形成一内凸部13；